Исследование имплантатов из наноструктурированного титана методом рентгеновской микротомографии; Контроль. Диагностика; № 11

Podrobná bibliografie
Parent link:Контроль. Диагностика.— , 1998-
№ 11.— 2011.— [С. 28-32]
Další autoři: Шаркеев Ю. П. Юрий Петрович, Белявская О. А. Ольга Андреевна, Ерошенко А. Ю. Анна Юрьевна, Капранов Б. И. Борис Иванович, Белкин Д. С. Денис Сергеевич, Клименов В. А. Василий Александрович
Shrnutí:Заглавие с экрана
Современная трансмиссионная рентгеновская томография высокого разрешения позволяет исследовать структуру материалов и изделий на уровне 3D-композиций с пространственным разрешением, определяемым размерами фокусного пятна источника рентгеновского излучения. Указанный метод успешно применен для качественного и количественного анализа характеристик изделий из наноструктурированного титана на примере зубных имплантатов, отличающихся высокой прочностью и хорошей биологической совместимостью с костной тканью человека. Показано, что микротомография позволяет производить неразрушающие исследования внутренней трехмерной структуры изделий без их предварительной обработки и подготовки.
The modern high resolution X-ray tomography allows us to investigate the structure of materials and articles at the level of 3D-designs with three-dimensional resolution determined with the X-ray focus sport size. In the paper this method was applied successfully for the quality and quantitative analysis of characteristics of dental implants from nanostructured titanium having the high strength and fine biology compatibility. It was shown that X-ray microtomography alloys us to carry out the nondestructive studies of articles without their preliminary treatment and preparation.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Jazyk:ruština
Vydáno: 2011
Témata:
On-line přístup:http://elibrary.ru/item.asp?id=17027855
Médium: Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=642814

MARC

LEADER 00000nla0a2200000 4500
001 642814
005 20250903110318.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\7779 
090 |a 642814 
100 |a 20150812d2011 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Исследование имплантатов из наноструктурированного титана методом рентгеновской микротомографии  |d Investigation of Implants from Nanostryctured Titanium with X-Ray Microtomography Method  |f Ю. П. Шаркеев [и др.] 
203 |a Текст  |c электронный 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 32 (8 назв.)] 
330 |a Современная трансмиссионная рентгеновская томография высокого разрешения позволяет исследовать структуру материалов и изделий на уровне 3D-композиций с пространственным разрешением, определяемым размерами фокусного пятна источника рентгеновского излучения. Указанный метод успешно применен для качественного и количественного анализа характеристик изделий из наноструктурированного титана на примере зубных имплантатов, отличающихся высокой прочностью и хорошей биологической совместимостью с костной тканью человека. Показано, что микротомография позволяет производить неразрушающие исследования внутренней трехмерной структуры изделий без их предварительной обработки и подготовки. 
330 |a The modern high resolution X-ray tomography allows us to investigate the structure of materials and articles at the level of 3D-designs with three-dimensional resolution determined with the X-ray focus sport size. In the paper this method was applied successfully for the quality and quantitative analysis of characteristics of dental implants from nanostructured titanium having the high strength and fine biology compatibility. It was shown that X-ray microtomography alloys us to carry out the nondestructive studies of articles without their preliminary treatment and preparation. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Контроль. Диагностика  |d 1998- 
463 |t № 11  |v [С. 28-32]  |d 2011 
510 1 |a Investigation of Implants from Nanostryctured Titanium with X-Ray Microtomography Method  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a рентгеновская микротомография 
610 1 |a X-Ray 
610 1 |a наноструктурированный титан 
610 1 |a ультрамелкозернистный титан 
610 1 |a имплантаты 
610 1 |a медицина 
701 1 |a Шаркеев  |b Ю. П.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1950-  |g Юрий Петрович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31437  |9 15599 
701 1 |a Белявская  |b О. А.  |g Ольга Андреевна 
701 1 |a Ерошенко  |b А. Ю.  |g Анна Юрьевна 
701 1 |a Капранов  |b Б. И.  |c российский учёный в области физических методов и приборов контроля качества  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1941-  |g Борис Иванович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26476 
701 1 |a Белкин  |b Д. С.  |c специалист в области неразрушающего контроля  |c директор Регионального центра аттестации, контроля и диагностики Томского политехнического университета, ассистент  |f 1986-  |g Денис Сергеевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30668  |9 14948 
701 1 |a Клименов  |b В. А.  |c специалист в области неразрушающего контроля  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |c проректор-директор Института неразрушающего контроля Томского политехнического университета  |f 1951-  |g Василий Александрович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\27985  |9 12975 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150812  |g RCR 
856 4 |u http://elibrary.ru/item.asp?id=17027855 
942 |c CF