Альбедо-толщинометрия карбидо-кремниевого покрытия

Opis bibliograficzny
Parent link:Контроль. Диагностика.— , 1998-
№ 13.— 2012.— [С. 117-121]
Kolejni autorzy: Белкин Д. С. Денис Сергеевич, Капранов Б. И. Борис Иванович, Крёнинг Х. М. В. А. Ханс Михаэль Вильхельм (Вильгельм) Адольф, Блинов В. М., Чунаев В. Ю., Чечулин Е. Г.
Streszczenie:Заглавие с экрана
В данной работе приведены результаты исследования по альбедо-контролю толщины защитных покрытий (применяемых в авиационной, космической, атомной и других отраслях промышленности). Авторами разработана геометрия контроля и конструкция измерительного преобразователя на основе радиоизотопа Am-241 и сцинтилляционного детектора для контроля толщины карбидокремниевого покрытия.
This paper presents the results of studies on the albedo-control thickness of protective coatings (used in aviation, space, nuclear and other industries). The authors proposed control technology and design of the transducer on the basis of the radioisotope and the scintillator for measuring the thickness of silicon carbide coating.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Wydane: 2012
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:http://elibrary.ru/item.asp?id=18889095
Format: Elektroniczne Rozdział
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=642811

MARC

LEADER 00000nla0a2200000 4500
001 642811
005 20250210151721.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\7776 
090 |a 642811 
100 |a 20150812d2012 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Альбедо-толщинометрия карбидо-кремниевого покрытия  |d Albedo-thickness silicon carbide coatings  |f Д. С. Белкин [и др.] 
203 |a Текст  |c электронный 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 121 (6 назв.)] 
330 |a В данной работе приведены результаты исследования по альбедо-контролю толщины защитных покрытий (применяемых в авиационной, космической, атомной и других отраслях промышленности). Авторами разработана геометрия контроля и конструкция измерительного преобразователя на основе радиоизотопа Am-241 и сцинтилляционного детектора для контроля толщины карбидокремниевого покрытия. 
330 |a This paper presents the results of studies on the albedo-control thickness of protective coatings (used in aviation, space, nuclear and other industries). The authors proposed control technology and design of the transducer on the basis of the radioisotope and the scintillator for measuring the thickness of silicon carbide coating. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Контроль. Диагностика  |d 1998- 
463 |t № 13  |v [С. 117-121]  |d 2012 
510 1 |a Albedo-thickness silicon carbide coatings  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a защитные перекрытия 
610 1 |a рентген 
610 1 |a углерод 
610 1 |a спектр 
610 1 |a интенсивность 
610 1 |a контроль 
610 1 |a энергия 
610 1 |a эффективность 
610 1 |a геометрия 
610 1 |a сечение 
701 1 |a Белкин  |b Д. С.  |c специалист в области неразрушающего контроля  |c директор Регионального центра аттестации, контроля и диагностики Томского политехнического университета, ассистент  |f 1986-  |g Денис Сергеевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30668  |9 14948 
701 1 |a Капранов  |b Б. И.  |c российский учёный в области физических методов и приборов контроля качества  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1941-  |g Борис Иванович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26476 
701 1 |a Крёнинг  |b Х. М. В. А.  |c немецкий специалист в области неразрушающего контроля  |c ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета  |g Ханс Михаэль Вильхельм (Вильгельм) Адольф  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\36262 
701 1 |a Блинов  |b В. М. 
701 1 |a Чунаев  |b В. Ю. 
701 1 |a Чечулин  |b Е. Г. 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20191022  |g RCR 
856 4 |u http://elibrary.ru/item.asp?id=18889095 
942 |c CF