Осевое и плоскостное каналирование 20-33 МэВ электронов в кремниевых подложках многослойных структур
| Parent link: | Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957- Т. 54, № 11/2 (тематический выпуск).— 2011.— [С. 256-261] |
|---|---|
| Κύριος συγγραφέας: | |
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Άλλοι συγγραφείς: | , |
| Περίληψη: | Заглавие с экрана Измерено угловое распределение рентгеновского излучения, генерируемого 20-33 МэВ электронами в 56 мкм монокристаллической пластине Si с толщиной по пучку электронов 1,5 мм, которая является подложкой многослойного рентгеновского зеркала. Фотографии угловых распределений показали концентрирование интенсивности излучения в направлении кристаллографических плоскостей (111), (110) и оси [001], что обусловлено эффектом каналирования быстрых электронов вдоль атомного ряда и плоскостей кристаллической пластины. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
| Έκδοση: |
2011
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://elibrary.ru/item.asp?id=17394901 |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=642005 |
MARC
| LEADER | 00000naa0a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 642005 | ||
| 005 | 20250408095509.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\network\6936 | ||
| 035 | |a RU\TPU\network\6933 | ||
| 090 | |a 642005 | ||
| 100 | |a 20150611d2011 k||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 135 | |a drnn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Осевое и плоскостное каналирование 20-33 МэВ электронов в кремниевых подложках многослойных структур |f В. В. Каплин, С. Р. Углов, А. А. Воронин | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 300 | |a Заглавие с экрана | ||
| 320 | |a [Библиогр.: с. 261 (14 назв.)] | ||
| 330 | |a Измерено угловое распределение рентгеновского излучения, генерируемого 20-33 МэВ электронами в 56 мкм монокристаллической пластине Si с толщиной по пучку электронов 1,5 мм, которая является подложкой многослойного рентгеновского зеркала. Фотографии угловых распределений показали концентрирование интенсивности излучения в направлении кристаллографических плоскостей (111), (110) и оси [001], что обусловлено эффектом каналирования быстрых электронов вдоль атомного ряда и плоскостей кристаллической пластины. | ||
| 333 | |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса | ||
| 461 | |t Известия вузов. Физика |o научный журнал |f Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) |d 1957- | ||
| 463 | |t Т. 54, № 11/2 (тематический выпуск) |v [С. 256-261] |d 2011 | ||
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a каналирование | |
| 610 | 1 | |a рентгеновское излучение | |
| 610 | 1 | |a электроны | |
| 610 | 1 | |a многослойные структуры | |
| 700 | 1 | |a Каплин |b В. В. |c физик |c ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета |f 1947- |g Валерий Викторович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28141 |9 13099 | |
| 701 | 1 | |a Углов |b С. Р. |c физик |c ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук |f 1958- |g Сергей Романович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28130 |9 13088 | |
| 701 | 1 | |a Воронин |b А. А. | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |b Физико-технический институт (ФТИ) |b Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) |b Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО) |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19530 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20150615 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://elibrary.ru/item.asp?id=17394901 | |
| 942 | |c CF | ||