Oстаточные напряжения в приповерхностном слое пирографита после его облучения мощными импульсными ионными пучками
| Parent link: | Известия вузов. Физика: научный журнал.— , 1957- Т. 55, № 6-2.— 2012.— [С. 4-9] |
|---|---|
| Corporate Author: | |
| Other Authors: | , , , , |
| Summary: | Заглавие с экрана С помощью рентгеновского метода _1sin {2}ψ_2 определялись остаточные напряжения в графите МПГ-6, облученном мощным ионным пучком (70 % ионов С {+} и С {2+} и 30 % Н {+}) с энергией 250-300 кэВ дозами 5, 250, 500 импульсов. Изучено распределение остаточных напряжений в графите после облучения МИП с разными дозами. Обнаружен немонотонный характер распределения по глубине величины остаточных напряжений от количества импульсов облучения. Выяснены причины возникновения сжимающих напряжений. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
| Language: | Russian |
| Published: |
2012
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://elibrary.ru/item.asp?id=18441348 |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=641981 |
MARC
| LEADER | 00000naa0a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 641981 | ||
| 005 | 20250407130658.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\network\6912 | ||
| 035 | |a RU\TPU\network\1480 | ||
| 090 | |a 641981 | ||
| 100 | |a 20150610d2012 k||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 135 | |a drcn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Oстаточные напряжения в приповерхностном слое пирографита после его облучения мощными импульсными ионными пучками |f С. Я. Бецофен [и др.] | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 300 | |a Заглавие с экрана | ||
| 320 | |a [Библиогр.: с. 9 (11 назв.)] | ||
| 330 | |a С помощью рентгеновского метода _1sin {2}ψ_2 определялись остаточные напряжения в графите МПГ-6, облученном мощным ионным пучком (70 % ионов С {+} и С {2+} и 30 % Н {+}) с энергией 250-300 кэВ дозами 5, 250, 500 импульсов. Изучено распределение остаточных напряжений в графите после облучения МИП с разными дозами. Обнаружен немонотонный характер распределения по глубине величины остаточных напряжений от количества импульсов облучения. Выяснены причины возникновения сжимающих напряжений. | ||
| 333 | |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса | ||
| 461 | |t Известия вузов. Физика |o научный журнал |d 1957- | ||
| 463 | |t Т. 55, № 6-2 |v [С. 4-9] |d 2012 | ||
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a ионные пучки | |
| 610 | 1 | |a импульсы облучения | |
| 610 | 1 | |a остаточные напряжения | |
| 610 | 1 | |a пирографиты | |
| 701 | 1 | |a Бецофен |b С. Я. |g Сергей Яковлевич | |
| 701 | 1 | |a Лигачев |b А. Е. |g Александр Егорович | |
| 701 | 1 | |a Луценко |b А. Н. |g Алексей Николаевич | |
| 701 | 1 | |a Потемкин |b Г. В. |c физик |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук |f 1942- |g Гелий Валерьянович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\35370 | |
| 701 | 1 | |a Ремнёв (Ремнев) |b Г. Е. |c физик |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук |f 1948- |g Геннадий Ефимович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\22004 |9 9301 | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |b Институт физики высоких технологий (ИФВТ) |b Лаборатория № 1 |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19035 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20151019 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://elibrary.ru/item.asp?id=18441348 | |
| 942 | |c CF | ||