Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие; пер. с англ.

Détails bibliographiques
Auteur principal: Брандон Д.
Autres auteurs: Каплан У.
Résumé:Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Langue:russe
Publié: Москва, Техносфера, 2004
Collection:Мир материалов и технологий
Sujets:
Format: Livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=64155

Documents similaires