Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие; пер. с англ.
| 主要作者: | |
|---|---|
| 其他作者: | |
| 总结: | Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями. |
| 语言: | 俄语 |
| 出版: |
Москва, Техносфера, 2004
|
| 丛编: | Мир материалов и технологий |
| 主题: | |
| 格式: | 图书 |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=64155 |