Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля, учебное пособие
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Summary: | Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями. |
| Published: |
Москва, Техносфера, 2004
|
| Series: | Мир материалов и технологий |
| Subjects: | |
| Format: | Book |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=64155 |
| Physical Description: | 377 с. ил. |
|---|---|
| Summary: | Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями. |
| ISBN: | 5948360180 |