Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Петракова И. В., Рахматуллина Т. В., Батурин А. А. Анатолий Анатольевич, & Корзников А. В. (2012). Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига. 2012.
Citación estilo ChicagoНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Петракова И. В., Рахматуллина Т. В., Батурин А. А. Анатолий Анатольевич, and Корзников А. В. Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига. 2012, 2012.
Cita MLAНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига. 2012, 2012.