Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Петракова И. В., Рахматуллина Т. В., Батурин А. А. Анатолий Анатольевич, & Корзников А. В. (2012). Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига; Заводская лаборатория. Диагностика материалов; Т. 78, № 4. 2012.
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Петракова И. В., Рахматуллина Т. В., Батурин А. А. Анатолий Анатольевич, and Корзников А. В. Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига; Заводская лаборатория. Диагностика материалов; Т. 78, № 4. 2012, 2012.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига; Заводская лаборатория. Диагностика материалов; Т. 78, № 4. 2012, 2012.