Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Mironov Yu. P., Tolmachev A. I., Bordulev Yu. S. Yuri Sergeevich, Laptev R. S. Roman Sergeevich, . . . Korznikov A. V. (2015). Positron spectroscopy of defects in submicrocrystalline nickel after low-temperature annealing; Physics of the Solid State; Vol. 57, iss. 2. 2015. https://doi.org/10.1134/S1063783415020225
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Mironov Yu. P., Tolmachev A. I., Bordulev Yu. S. Yuri Sergeevich, Laptev R. S. Roman Sergeevich, Lider A. M. Andrey Markovich, and Korznikov A. V. Positron Spectroscopy of Defects in Submicrocrystalline Nickel After Low-temperature Annealing; Physics of the Solid State; Vol. 57, Iss. 2. 2015, 2015. https://doi.org/10.1134/S1063783415020225.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Positron Spectroscopy of Defects in Submicrocrystalline Nickel After Low-temperature Annealing; Physics of the Solid State; Vol. 57, Iss. 2. 2015, 2015. https://doi.org/10.1134/S1063783415020225.