Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Mironov Yu. P., Tolmachev A. I., Bordulev Yu. S. Yuri Sergeevich, Laptev R. S. Roman Sergeevich, . . . Korznikov A. V. (2015). Positron spectroscopy of defects in submicrocrystalline nickel after low-temperature annealing. 2015. https://doi.org/10.1134/S1063783415020225
Cita Chicago (17th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Mironov Yu. P., Tolmachev A. I., Bordulev Yu. S. Yuri Sergeevich, Laptev R. S. Roman Sergeevich, Lider A. M. Andrey Markovich, i Korznikov A. V. Positron Spectroscopy of Defects in Submicrocrystalline Nickel After Low-temperature Annealing. 2015, 2015. https://doi.org/10.1134/S1063783415020225.
Cita MLA (9th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Positron Spectroscopy of Defects in Submicrocrystalline Nickel After Low-temperature Annealing. 2015, 2015. https://doi.org/10.1134/S1063783415020225.