MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 63917
005 20231031065127.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\67821 
090 |a 63917 
100 |a 20040521d2004 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 001zy 
200 1 |a Современные методы структурного анализа в материаловедении  |e учебное пособие  |f С. Н. Кульков  |g Томский политехнический университет 
210 |a Томск  |c Изд-во ТПУ  |d 2004 
215 |a 96 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 95 
610 1 |a материаловедение 
610 1 |a материалы 
610 1 |a рентгеноструктурный анализ 
610 1 |a просвечивающая электронная микроскопия 
610 1 |a растровая электронная микроскопия 
610 1 |a рентгеноспектральный анализ 
610 1 |a нейтронография 
610 1 |a кристаллы 
610 1 |a ядерная гамма-резонансная спектроскопия 
610 1 |a учебные пособия 
675 |a 620.22:539(075.8)  |v 3 
700 1 |a Кульков  |b С. Н.  |c специалист в области материаловедения  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1952-  |g Сергей Николаевич  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28994 
712 0 2 |a Томский политехнический университет  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\376 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20040521  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20201119  |g PSBO 
900 |a Современные методы структурного анализа в материаловедении 
942 |c BK