Влияние структурных дефектов на электронные свойства поверхности и границ раздела в сплавах Гейслера

Dades bibliogràfiques
Parent link:Физическая мезомеханика/ Российская академия наук (РАН), Сибирское отделение (СО), Институт физики прочности и материаловедения (ИФПМ).— , 1998-
Т. 9, № S-1.— 2006.— [С. 33-36]
Altres autors: Кульков С. С. Сергей Сергеевич, Немирович-Данченко Л. Ю. Любовь Юрьевна, Смолин И. Ю. Игорь Юрьевич, Кулькова С. Е. Светлана Евгеньевна
Sumari:Заглавие с экрана
Представлены результаты первопринципных расчетов электронной структуры сплавов Гейслера Co2MnGa(Si) и Ni2MnGa, а также их тонких пленок на полупроводниковых подложках. Анализируется влияние структурных дефектов на электронную структуру и магнитные свойства в объеме, на поверхности и границах раздела.
The paper presents an ab-initio study of the electronic structure of Co2MnGa(Si) and Ni2MnGa Heusler alloys and their thin films on semiconductor substrates. The influence of structural defects on the electronic structure and magnetic properties in the bulk, on the surface and at interfaces is analyzed.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Publicat: 2006
Matèries:
Accés en línia:http://elibrary.ru/item.asp?id=9933386
Format: Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=638921
Descripció
Sumari:Заглавие с экрана
Представлены результаты первопринципных расчетов электронной структуры сплавов Гейслера Co2MnGa(Si) и Ni2MnGa, а также их тонких пленок на полупроводниковых подложках. Анализируется влияние структурных дефектов на электронную структуру и магнитные свойства в объеме, на поверхности и границах раздела.
The paper presents an ab-initio study of the electronic structure of Co2MnGa(Si) and Ni2MnGa Heusler alloys and their thin films on semiconductor substrates. The influence of structural defects on the electronic structure and magnetic properties in the bulk, on the surface and at interfaces is analyzed.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса