APA (7. basım) Alıntı

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Энергетический институт (ЭНИН) Кафедра электроснабжения промышленных предприятий (ЭПП), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Лаборатория № 1, Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра водородной энергетики и плазменных технологий (ВЭПТ), Kabyshev A. V. Alexander Vasilievich, Konusov F. V. Fedor Valerievich, Remnev G. E. Gennady Efimovich, & Pavlov S. K. Sergey Konstantinovich. (2014). Influence of the High-Intensity Short-Pulse Implantation of Ions on the Properties of Polycrystalline Silicon; Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques; Vol. 8, iss. 6. 2014.

Chicago Style (17. basım) Atıf

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Энергетический институт (ЭНИН) Кафедра электроснабжения промышленных предприятий (ЭПП), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Лаборатория № 1, Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра водородной энергетики и плазменных технологий (ВЭПТ), Kabyshev A. V. Alexander Vasilievich, Konusov F. V. Fedor Valerievich, Remnev G. E. Gennady Efimovich, ve Pavlov S. K. Sergey Konstantinovich. Influence of the High-Intensity Short-Pulse Implantation of Ions on the Properties of Polycrystalline Silicon; Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques; Vol. 8, Iss. 6. 2014, 2014.

MLA (9th ed.) Atıf

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Энергетический институт (ЭНИН) Кафедра электроснабжения промышленных предприятий (ЭПП), et al. Influence of the High-Intensity Short-Pulse Implantation of Ions on the Properties of Polycrystalline Silicon; Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques; Vol. 8, Iss. 6. 2014, 2014.