Ионная обработка циркониевой керамики мощными импульсными пучками; Журнал технической физики; Т. 85, вып. 1

Detaylı Bibliyografya
Parent link:Журнал технической физики.— , 1931-
Т. 85, вып. 1.— 2015.— [С. 132-137]
Müşterek Yazar: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)
Diğer Yazarlar: Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич, Васильев И. П. Иван Петрович, Суржиков А. П. Анатолий Петрович, Франгульян Т. С. Тамара Семёновна, Чернявский А. В. Александр Викторович
Özet:Заглавие с экрана
Методами рентгенофазового анализа и сканирующей электронной микроскопии обнаружено изменение структурно-фазового состояния поверхностных слоев циркониевой керамики после воздействия мощных импульсных пучков ионов углерода с плотностью энергии в импульсе 3 J/cm2. Анализ рентгенограмм облученной керамики указывает на интенсивное образование высокотемпературной кубической модификации диоксида циркония. Результаты исследований методом вторично-ионной масс-спектроскопии распределения ионов кислорода по глубине свидетельствуют о дефиците кислорода в приповерхностных слоях облученной керамики. Нарушение кислородной стехиометрии приводит к значительному росту (на несколько порядков величины) электрической проводимости исследованных образцов. Определены механические характеристики (микротвердость, нанотвердость, модуль Юнга) циркониевой керамики после обработки мощными импульсными пучками.
Dil:Rusça
Baskı/Yayın Bilgisi: 2015
Konular:
Online Erişim:http://journals.ioffe.ru/jtf/2015/01/page-132.html.ru
Materyal Türü: MixedMaterials Elektronik Kitap Bölümü
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=637864

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 637864
005 20250123162409.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\2044 
090 |a 637864 
100 |a 20141030d2015 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Ионная обработка циркониевой керамики мощными импульсными пучками  |f С. А. Гынгазов [и др.] 
203 |a Текст  |c электронный 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 136-137 (9 назв.)] 
330 |a Методами рентгенофазового анализа и сканирующей электронной микроскопии обнаружено изменение структурно-фазового состояния поверхностных слоев циркониевой керамики после воздействия мощных импульсных пучков ионов углерода с плотностью энергии в импульсе 3 J/cm2. Анализ рентгенограмм облученной керамики указывает на интенсивное образование высокотемпературной кубической модификации диоксида циркония. Результаты исследований методом вторично-ионной масс-спектроскопии распределения ионов кислорода по глубине свидетельствуют о дефиците кислорода в приповерхностных слоях облученной керамики. Нарушение кислородной стехиометрии приводит к значительному росту (на несколько порядков величины) электрической проводимости исследованных образцов. Определены механические характеристики (микротвердость, нанотвердость, модуль Юнга) циркониевой керамики после обработки мощными импульсными пучками. 
461 |t Журнал технической физики  |d 1931- 
463 |t Т. 85, вып. 1  |v [С. 132-137]  |d 2015 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a циркониевая керамика 
610 1 |a ионная обработка 
610 1 |a импульсные пучки 
610 1 |a рентгенофазовый анализ 
610 1 |a сканирующая электронная микроскопия 
610 1 |a поверхностные слои 
701 1 |a Гынгазов  |b С. А.  |c специалист в области электроники  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1958-  |g Сергей Анатольевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26531  |9 12225 
701 1 |a Васильев  |b И. П.  |c специалист в области электротехники  |c лаборант-исследователь Томского политехнического университета  |f 1990-  |g Иван Петрович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30664  |9 14945 
701 1 |a Суржиков  |b А. П.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1951-  |g Анатолий Петрович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\22010  |9 9307 
701 1 |a Франгульян  |b Т. С.  |c специалист в области электроники, диэлектриков и полупроводников  |c ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1940-  |g Тамара Семёновна  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26534 
701 1 |a Чернявский  |b А. В.  |c специалист в области электроники  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1966-  |g Александр Викторович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26556 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19033 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160220  |g RCR 
856 4 |u http://journals.ioffe.ru/jtf/2015/01/page-132.html.ru 
942 |c CF