Радиационные дефекты в арсениде галлия, введенные нейтронами и протонами; Перспективные материалы; № 3

Bibliografiske detaljer
Parent link:Перспективные материалы.— , 1995-
№ 3.— 2008.— [С. 45-50]
Hovedforfatter: Пешев В. В. Владимир Викторович
Andre forfattere: Соболева Э. Г. Эльвира Гомеровна
Summary:Заглавие с экрана
Методом релаксационной спектроскопии глубоких уровней (DLTS) изучены радиационные дефекты в эпитаксиальных слоях n-GaAs, облученных протонами (65 Мэв) и быстрыми нейтронами. Используя различные условия для заполнения глубоких ловушек электронами и различные условия отжига облученных образцов, показано, что широкая U-полоса предположительно является суперпозицией двух пиков, сформированных известными в GaAs дефектами P2 и P3, находящимися в пределах скоплений дефектов. При этом и форма, и местоположение пиков P2 и P3 в спектрах DLTS изменены вследствие влияния электрических полей областей разупорядочения на скорость эмиссии электронов с глубоких уровней. Проведены расчеты спектров DLTS с учетом неоднородного распределения этих дефектов в образце и встроенных электрических полей, обусловленных этими неоднородностями.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Sprog:russisk
Udgivet: 2008
Fag:
Online adgang:http://elibrary.ru/item.asp?id=11788996
Format: MixedMaterials Electronisk Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=637863

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 637863
005 20250123162249.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\2043 
090 |a 637863 
100 |a 20141030d2008 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Радиационные дефекты в арсениде галлия, введенные нейтронами и протонами  |f В. В. Пешев, Э. Г. Соболева 
203 |a Текст  |c электронный 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 50 (13 назв.)] 
330 |a Методом релаксационной спектроскопии глубоких уровней (DLTS) изучены радиационные дефекты в эпитаксиальных слоях n-GaAs, облученных протонами (65 Мэв) и быстрыми нейтронами. Используя различные условия для заполнения глубоких ловушек электронами и различные условия отжига облученных образцов, показано, что широкая U-полоса предположительно является суперпозицией двух пиков, сформированных известными в GaAs дефектами P2 и P3, находящимися в пределах скоплений дефектов. При этом и форма, и местоположение пиков P2 и P3 в спектрах DLTS изменены вследствие влияния электрических полей областей разупорядочения на скорость эмиссии электронов с глубоких уровней. Проведены расчеты спектров DLTS с учетом неоднородного распределения этих дефектов в образце и встроенных электрических полей, обусловленных этими неоднородностями. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
337 |a Adobe Reader 
461 |t Перспективные материалы  |d 1995- 
463 |t № 3  |v [С. 45-50]  |d 2008 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a радиационные дефекты 
610 1 |a спектры 
610 1 |a электрическое поле 
700 1 |a Пешев  |b В. В.  |c специалист в области электротехники  |c ведущий научный специалист Томского политехнического университета  |f 1948-  |g Владимир Викторович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31082 
701 1 |a Соболева  |b Э. Г.  |c физик  |c доцент Юргинского технологического института (филиал) Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1976-  |g Эльвира Гомеровна  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\27511 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20141111  |g RCR 
856 4 |u http://elibrary.ru/item.asp?id=11788996 
942 |c CF