Наблюдение параметрического рентгеновского излучения от протонов с энергией 50 ГэВ; Известия вузов. Физика; Т. 56, № 11-2

Detalles Bibliográficos
Parent link:Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957-
Т. 56, № 11-2.— 2013.— [С. 178-183]
Autor Corporativo: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ)
Otros Autores: Афонин А. Г. Александр Гаврилович, Бритвич Г. И. Геннадий Иванович, Чесноков Ю. А. Юрий Андреевич, Дурум А. А. Артур Андреевич, Костин М. Ю. Михаил Юрьевич, Лутчев А. В. Александр Вениаминович, Маишеев В. А. Владимир Александрович, Янович А. А. Андрей Антонович, Щагин А. В. Александр Васильевич, Трутень В. И. Валентин Иванович, Ганенко В. Б. Владимир Борисович, Кириллин И. В. Игорь Владимирович, Шульга Н. Ф. Николай Федорович, Кубанкин А. С. Александр Сергеевич, Насонов Н. Н. Николай Николаевич, Потылицын А. П. Александр Петрович, Гоголев А. С. Алексей Сергеевич, Каратаев П. В. Павел Владимирович, Углов С. Р. Сергей Романович, Черепенников Ю. М. Юрий Михайлович
Sumario:Заглавие с экрана
Представлены экспериментальные результаты наблюдения параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) в кристалле Si на выведенном пучке протонов c энергией 50 ГэВ ускорителя У70. В спектрах, измеренных полупроводниковым Si-детектором, наблюдается изменение интенсивности и смещение положения пика ПРИ при изменении ориентации мишени. Анализируется проблемы наблюдения ПРИ с помощью широкоапертурного полупроводникового детектора в условиях сильного радиационного фона
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Lenguaje:ruso
Publicado: 2013
Materias:
Acceso en línea:http://elibrary.ru/item.asp?id=21115130
Formato: Electrónico Capítulo de libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=637393
Descripción
Sumario:Заглавие с экрана
Представлены экспериментальные результаты наблюдения параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) в кристалле Si на выведенном пучке протонов c энергией 50 ГэВ ускорителя У70. В спектрах, измеренных полупроводниковым Si-детектором, наблюдается изменение интенсивности и смещение положения пика ПРИ при изменении ориентации мишени. Анализируется проблемы наблюдения ПРИ с помощью широкоапертурного полупроводникового детектора в условиях сильного радиационного фона
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса