Обнаружение параметрического рентгеновского излучения умеренно релятивистских протонов в кристаллах: препринт; Объединённый институт ядерных исследований (ОИЯИ). Издательский отдел; 011(P1-2005-11)

Chi tiết về thư mục
Parent link:	Объединённый институт ядерных исследований (ОИЯИ). Издательский отдел.— , 1999- 011(P1-2005-11).— 2005.— [10 с.]
Tác giả khác:	Адищев Ю. Н. Юрий Николаевич, Артемов А. С., Афанасьев С. В., Бойко В. В., Воеводин М. А., Волков В. И., Гоголев А. С. Алексей Сергеевич, Забаев В. Н. Виктор Николаевич, Ефимов А. Н., Ефремов Ю. В., Коваленко А. Д., Пивоваров Ю. Л. Юрий Леонидович, Потылицын А. П. Александр Петрович, Романов С. В., Сайфулин Ш. З., Силаев Е. А., Таратин А. М., Тимошенков С. П., Углов С. Р. Сергей Романович
Tóm tắt:	Заглавие с экрана Зарегистрированы спектральные максимумы параметрического рентгеновского излучения при взаимодействии умеренно релятивистских протонов с различными кристаллами. Положения максимумов излучения в спектрах зависят от угла ориентации кристалла и соответствуют теоретическим значениям. Измерения выполнены c кристаллами кремния и графита на пучке протонов 5 ГэВ Нуклотрона ЛВЭ ОИЯИ
Ngôn ngữ:	Tiếng Nga
Được phát hành:	2005
Những chủ đề:	электронный ресурс труды учёных ТПУ параметрическое рентгеновское излучение релятивистские частицы кристаллы
Truy cập trực tuyến:	http://www1.jinr.ru/Preprints/2005/011(P1-2005-11).pdf
Định dạng:	Điện tử Chương của sách
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=636730

Miêu tả
Tóm tắt:	Заглавие с экрана Зарегистрированы спектральные максимумы параметрического рентгеновского излучения при взаимодействии умеренно релятивистских протонов с различными кристаллами. Положения максимумов излучения в спектрах зависят от угла ориентации кристалла и соответствуют теоретическим значениям. Измерения выполнены c кристаллами кремния и графита на пучке протонов 5 ГэВ Нуклотрона ЛВЭ ОИЯИ

Những quyển sách tương tự