Electron beam position monitor based on optical diffraction radiation

Bibliographic Details
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of Fundamental Sciences Development: сборник научных трудов XVIII Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 27-30 апреля 2021 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. И. А. Курзиной, Г. А. Вороновой.— , 2021
Т. 1 : Физика.— 2021.— [С. 103-105]
Main Author: Gusvitskii T. M.
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов
Other Authors: Potylitsyn A. P. Alexander Petrovich (727)
Summary:Заглавие с экрана
В данной работе было произведено моделирование пространственных распределений интенсивности оптического дифракционного излучения. Было показано, что симметрия этих распределений находится в зависимости от начального положения электрона относительно центра щели при её пересечении. Эта зависимость может быть применена для определения положения пучка по получаемым изображениям оптического дифракционного излучения, что, в свою очередь, делает возможным создание на её основе монитора положения пучка.
Language:English
Published: 2021
Subjects:
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/68352
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=633393
Description
Summary:Заглавие с экрана
В данной работе было произведено моделирование пространственных распределений интенсивности оптического дифракционного излучения. Было показано, что симметрия этих распределений находится в зависимости от начального положения электрона относительно центра щели при её пересечении. Эта зависимость может быть применена для определения положения пучка по получаемым изображениям оптического дифракционного излучения, что, в свою очередь, делает возможным создание на её основе монитора положения пучка.