Анализ и обработка АСМ-изображений анодного оксида алюминия; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1 : Физика
| Parent link: | Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of Fundamental Sciences Development: сборник научных трудов XVIII Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 27-30 апреля 2021 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. И. А. Курзиной, Г. А. Вороновой.— , 2021 Т. 1 : Физика.— 2021.— [С. 97-99] |
|---|---|
| Hovedforfatter: | |
| Institution som forfatter: | |
| Andre forfattere: | , , |
| Summary: | Заглавие с экрана Atomic force microscopy is a unique technique that allows you to see and measure the surface structure of a sample quickly, with high resolution and accuracy. AFM greatly simplifies the study of the anodic oxide aluminium surface. In this study, we showed how the analysis and processing of images obtained on an atomic force microscope takes place. Methods for obtaining high-quality AFM images using various software were shown. |
| Sprog: | russisk |
| Udgivet: |
2021
|
| Fag: | |
| Online adgang: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/68350 |
| Format: | MixedMaterials Electronisk Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=633391 |
MARC
| LEADER | 00000naa2a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 633391 | ||
| 005 | 20231101133747.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\conf\35139 | ||
| 035 | |a RU\TPU\conf\35073 | ||
| 090 | |a 633391 | ||
| 100 | |a 20210817d2021 k y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus |d eng | |
| 102 | |a RU | ||
| 105 | |a y z 100zy | ||
| 135 | |a drgn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Анализ и обработка АСМ-изображений анодного оксида алюминия |d Analysis and processing of AFM images of anodic aluminum oxide |f А. А. Гришанков, Пань Мэнхуа, Цзи Синьюй |g науч. рук. Г. А. Воронова | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 230 | |a 1 компьютерный файл (pdf; 1 705 Kb) | ||
| 300 | |a Заглавие с экрана | ||
| 320 | |a [Библиогр.: с. 99 (3 назв.)] | ||
| 330 | |a Atomic force microscopy is a unique technique that allows you to see and measure the surface structure of a sample quickly, with high resolution and accuracy. AFM greatly simplifies the study of the anodic oxide aluminium surface. In this study, we showed how the analysis and processing of images obtained on an atomic force microscope takes place. Methods for obtaining high-quality AFM images using various software were shown. | ||
| 461 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\35054 |t Перспективы развития фундаментальных наук |l Prospects of Fundamental Sciences Development |o сборник научных трудов XVIII Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 27-30 апреля 2021 г. |o в 7 т. |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. И. А. Курзиной, Г. А. Вороновой |d 2021 | |
| 463 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\35055 |t Т. 1 : Физика |v [С. 97-99] |d 2021 | |
| 510 | 1 | |a Analysis and processing of AFM images of anodic aluminum oxide |z eng | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a анализ | |
| 610 | 1 | |a обработка | |
| 610 | 1 | |a изображения | |
| 610 | 1 | |a оксид алюминия | |
| 610 | 1 | |a атомно-силовая микроскопия | |
| 610 | 1 | |a поверхности | |
| 700 | 1 | |a Гришанков |b А. А. | |
| 701 | 0 | |a Пань Мэнхуа | |
| 701 | 0 | |a Цзи Синьюй | |
| 702 | 1 | |a Воронова |b Г. А. |c химик |c доцент Томского политехнического университета, кандидат химических наук |f 1974- |g Гульнара Альфридовна |2 stltpush |4 727 | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет |b Инженерная школа новых производственных технологий |b Отделение материаловедения |h 7871 |2 stltpush |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23508 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20210902 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/68350 | |
| 942 | |c BK | ||