Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Шульгина Ю. В. Юлия Викторовна, Терентьева О. Ю., Шульгин Е. М., & Костина М. А. Мария Алексеевна. (2020). Применение свойств эллипса при построении изображения объекта по данным с многоэлементного датчика; Современные технологии, экономика и образование. 2020.
Citación estilo ChicagoНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Шульгина Ю. В. Юлия Викторовна, Терентьева О. Ю., Шульгин Е. М., and Костина М. А. Мария Алексеевна. Применение свойств эллипса при построении изображения объекта по данным с многоэлементного датчика; Современные технологии, экономика и образование. 2020, 2020.
Cita MLAНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, et al. Применение свойств эллипса при построении изображения объекта по данным с многоэлементного датчика; Современные технологии, экономика и образование. 2020, 2020.