Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Filatov N. A. Nikolay Alexandrovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Chistyakov S. G. Sergey Gennadevich, & Alekseev N. V. (2020). Development of the statistical methods for x-ray detector characterization to use in CT. 2020.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Filatov N. A. Nikolay Alexandrovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Chistyakov S. G. Sergey Gennadevich, و Alekseev N. V. Development of the Statistical Methods for X-ray Detector Characterization to Use in CT. 2020, 2020.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", et al. Development of the Statistical Methods for X-ray Detector Characterization to Use in CT. 2020, 2020.