Text this: Моделирование зависимости профилей распределения интенсивностей элементов с учетом неравномерности распыления оптически-эмиссионного спектрометра тлеющего разряда для анализа многослойных покрытий; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1 : Физика