Measurement of 1-GeV Electrons Ionization loss Spectra in a CdTe Crystal with a Thickness of 1 mm; Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures (RREPS-19)

Measurement of 1-GeV Electrons Ionization loss Spectra in a CdTe Crystal with a Thickness of 1 mm; Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures (RREPS-19)

Dades bibliogràfiques
Parent link:	Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures (RREPS-19).— 2019.— [P. 110]
Autor corporatiu:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика"
Altres autors:	Shchagin A. V., Kubankin A. S., Nazhmudinov R. M., Trofymenko S. V., Potylitsyn A. P. Alexander Petrovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Filatov N. A. Nikolay Alexandrovich, Kube G., Potylitsina-Kube N. A., Stanitzki M., Diener R., Novokshonov A.
Sumari:	Title screen
Idioma:	anglès
Publicat:	2019
Col·lecció:	Applications of Monochromatic X-ray, [gamma]-ray
Matèries:	электронный ресурс труды учёных ТПУ спектры ионизационные потери электроны детекторы ионизация кремниевые кристаллы
Accés en línia:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58020
Format:	MixedMaterials Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630964

Internet

http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58020