Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Shchagin A. V., Kubankin A. S., Nazhmudinov R. M., Trofymenko S. V., . . . Novokshonov A. (2019). Measurement of 1-GeV Electrons Ionization loss Spectra in a CdTe Crystal with a Thickness of 1 mm. 2019.
Chicago-referens (17:e uppl.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Measurement of 1-GeV Electrons Ionization Loss Spectra in a CdTe Crystal with a Thickness of 1 Mm. 2019, 2019.
MLA-referens (9:e uppl.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Measurement of 1-GeV Electrons Ionization Loss Spectra in a CdTe Crystal with a Thickness of 1 Mm. 2019, 2019.