Контроль проявления дислокаций при воздействии ионизирующего излучения; Информационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности
| Parent link: | Информационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности.— 2019.— [С. 257-261] |
|---|---|
| Autor corporatiu: | |
| Altres autors: | , , , |
| Sumari: | Заглавие с экрана Статья посвящена контролю проявления дислокаций при воздействии внешних факторов на светодиоды на основе гетероструктур AlGaAs инфракрасного диапазона вследствие воздействия ионизирующего излучения гамма-квантов, быстрых нейтронов, электронов, а также длительной эксплуатации. На основе результатов исследований выполнено моделирование прямой ветви вольт-амперной характеристики светодиодов. Путем сопоставления с известными литературными данными и результатами экспериментальных исследований доказана достоверность и адекватность разработанной математической модели. Также разработана специальная технологическая оснастка для исследования температурных полей светодиодов с дислокациями и без них для тепловизионного микроскопа высокого разрешения. Разработанная математическая модель может быть использована для исследования других типов полупроводниковых приборов на основе p-n-перехода. The article is devoted to controlling the appearance of dislocations when exposed to external factors on LEDs based on AlGaAs heterostructures of the infrared range due to exposure to ionizing radiation from gamma rays, fast neutrons, electrons, as well as long-term operation. Based on the research results, the simulation of the direct branch of the current-voltage characteristics of LEDs was performed. By comparison with the known literary data and the results of experimental studies proved the reliability and adequacy of the developed mathematical model. A special technological equipment has also been developed for studying the temperature fields of LEDs with dislocations for a high-resolution thermal imaging microscope. The developed mathematical model can be used to study other types of semiconductor devices based on the p-n-junction. |
| Idioma: | rus |
| Publicat: |
2019
|
| Matèries: | |
| Accés en línia: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57594 |
| Format: | Electrònic Capítol de llibre |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630797 |
MARC
| LEADER | 00000naa2a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 630797 | ||
| 005 | 20231102024504.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\conf\32311 | ||
| 035 | |a RU\TPU\conf\32309 | ||
| 090 | |a 630797 | ||
| 100 | |a 20200123d2019 k y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 105 | |a y z 101zy | ||
| 135 | |a drcn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Контроль проявления дислокаций при воздействии ионизирующего излучения |d Control of manifestation of dislocations under the influence of external factors |f Е. А. Сёмчин [и др.] | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 230 | |a 1 компьютерный файл (pdf; 643 Кб) | ||
| 300 | |a Заглавие с экрана | ||
| 320 | |a [Библиогр.: с. 260-261 (7 назв.)] | ||
| 330 | |a Статья посвящена контролю проявления дислокаций при воздействии внешних факторов на светодиоды на основе гетероструктур AlGaAs инфракрасного диапазона вследствие воздействия ионизирующего излучения гамма-квантов, быстрых нейтронов, электронов, а также длительной эксплуатации. На основе результатов исследований выполнено моделирование прямой ветви вольт-амперной характеристики светодиодов. Путем сопоставления с известными литературными данными и результатами экспериментальных исследований доказана достоверность и адекватность разработанной математической модели. Также разработана специальная технологическая оснастка для исследования температурных полей светодиодов с дислокациями и без них для тепловизионного микроскопа высокого разрешения. Разработанная математическая модель может быть использована для исследования других типов полупроводниковых приборов на основе p-n-перехода. | ||
| 330 | |a The article is devoted to controlling the appearance of dislocations when exposed to external factors on LEDs based on AlGaAs heterostructures of the infrared range due to exposure to ionizing radiation from gamma rays, fast neutrons, electrons, as well as long-term operation. Based on the research results, the simulation of the direct branch of the current-voltage characteristics of LEDs was performed. By comparison with the known literary data and the results of experimental studies proved the reliability and adequacy of the developed mathematical model. A special technological equipment has also been developed for studying the temperature fields of LEDs with dislocations for a high-resolution thermal imaging microscope. The developed mathematical model can be used to study other types of semiconductor devices based on the p-n-junction. | ||
| 463 | 0 | |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\32128 |t Информационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности |o сборник научных трудов VIII Международной конференции школьников, студентов, аспирантов, молодых ученых "Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее", 7 -12 октября 2019 г., г. Томск |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |v [С. 257-261] |d 2019 | |
| 510 | 1 | |a Control of manifestation of dislocations under the influence of external factors |z eng | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a дислокации | |
| 610 | 1 | |a светодиоды | |
| 610 | 1 | |a гетероструктуры | |
| 610 | 1 | |a ионизирующие излучения | |
| 610 | 1 | |a вольт-амперные характеристики | |
| 610 | 1 | |a математические модели | |
| 610 | 1 | |a dislocation | |
| 610 | 1 | |a LED | |
| 610 | 1 | |a heterostructure | |
| 610 | 1 | |a AlGaAs based LED | |
| 610 | 1 | |a ionizing radiation | |
| 701 | 1 | |a Сёмчин |b Е. А. |g Егор Александрович | |
| 701 | 1 | |a Градобоев |b А. В. |c физик |c профессор Юргинского технологического института (филиала) Томского политехнического университета, доктор технических наук |f 1952- |g Александр Васильевич |2 stltpush |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\24213 |9 10707 | |
| 701 | 1 | |a Симонова |b А. В. |c физик |c ассистент кафедры Томского политехнического университета |f 1990- |g Анастасия Владимировна |2 stltpush |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\42262 | |
| 701 | 1 | |a Потрепалов |b И. Д. |g Иван Дмитриевич | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет |b Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности |b Отделение контроля и диагностики |h 7978 |2 stltpush |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23584 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20200128 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57594 | |
| 942 | |c BK | ||