Измерение диаметра тонких волокон дифракционным методом
| Parent link: | Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее (т. 2): сборник научных трудов VII Международной конференции школьников, студентов, аспирантов, молодых ученых, 8 -13 октября 2018 г., г. Томск/ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ). [С. 153-158].— , 2018 |
|---|---|
| Yazar: | |
| Müşterek Yazar: | |
| Diğer Yazarlar: | |
| Özet: | Заглавие с экрана В статье описан метод контроля диаметра тонких протяжённых объектов на основе эффекта дифракции. Описан способ, позволяющий минимизировать влияние на результат измерения мешающих факторов, таких как чрезмерная засветка области центрального максимума. Предложен и опроробирован вариант технической реализации лабораторного образца дифракционного измерителя, оценены его метрологические характеристики. The article describes a method for controlling the diameter of thin long objects based on the diffraction effect. A method is described that allows minimizing the influence on the measurement result of interfering factors, such as excessive illumination of the region of the central maximum. A variant of the technical realization of a laboratory sample of a diffraction meter was proposed and tested, and its metrological characteristics were evaluated. |
| Dil: | Rusça |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
2018
|
| Konular: | |
| Online Erişim: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/52969 |
| Materyal Türü: | Elektronik Kitap Bölümü |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=629246 |
| Özet: | Заглавие с экрана В статье описан метод контроля диаметра тонких протяжённых объектов на основе эффекта дифракции. Описан способ, позволяющий минимизировать влияние на результат измерения мешающих факторов, таких как чрезмерная засветка области центрального максимума. Предложен и опроробирован вариант технической реализации лабораторного образца дифракционного измерителя, оценены его метрологические характеристики. The article describes a method for controlling the diameter of thin long objects based on the diffraction effect. A method is described that allows minimizing the influence on the measurement result of interfering factors, such as excessive illumination of the region of the central maximum. A variant of the technical realization of a laboratory sample of a diffraction meter was proposed and tested, and its metrological characteristics were evaluated. |
|---|