Исследование профиля концентрации атомов металлов в поверхностном слое полилактида после ионной имплантации

Podrobná bibliografie
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of Fundamental Sciences Development: сборник научных трудов XV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 24-27 апреля 2018 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. И. А. Курзиной, Г. А. Вороновой.— , 2018
Т. 2 : Химия.— 2018.— [С. 123-125]
Hlavní autor: Зуза Д. А.
Korporace: Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ), Российская академия наук (РАН) Сибирское отделение (СО) Институт сильноточной электроники (ИСЭ)
Další autoři: Коростелев В. О. (727), Васенина И. В., Курзина И. А.
Shrnutí:Заглавие с экрана
In the present work the effect of zinc, magnesium and silver ion implantation with exposure doses of 1·10 15 and 1·1016 ion/cm{2}, accelerating voltage of 20 kV and ion energy of 20, 30, 40 keV, respectively on polylactic acid (PL) films we investigated. The study of the state of the modified layer was carried out using the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and TRIM simulation code including dynamic composition changes (TRIDYN) methods. The influence of ion beams on the surface resistivity and the wetting contact angle was studied.
Jazyk:ruština
Vydáno: 2018
Témata:
On-line přístup:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/50735
Médium: Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=627516

Podobné jednotky