Исследование профиля концентрации атомов металлов в поверхностном слое полилактида после ионной имплантации; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 2 : Химия

Исследование профиля концентрации атомов металлов в поверхностном слое полилактида после ионной имплантации

Détails bibliographiques
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of Fundamental Sciences Development: сборник научных трудов XV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 24-27 апреля 2018 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. И. А. Курзиной, Г. А. Вороновой.— , 2018
Т. 2 : Химия.— 2018.— [С. 123-125]
Auteur principal: Зуза Д. А.
Collectivités auteurs: Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ), Российская академия наук (РАН) Сибирское отделение (СО) Институт сильноточной электроники (ИСЭ)
Autres auteurs: Коростелев В. О. (научный руководитель), Васенина И. В., Курзина И. А.
Résumé:Заглавие с экрана
In the present work the effect of zinc, magnesium and silver ion implantation with exposure doses of 1·10 15 and 1·1016 ion/cm{2}, accelerating voltage of 20 kV and ion energy of 20, 30, 40 keV, respectively on polylactic acid (PL) films we investigated. The study of the state of the modified layer was carried out using the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and TRIM simulation code including dynamic composition changes (TRIDYN) methods. The influence of ion beams on the surface resistivity and the wetting contact angle was studied.
Langue:russe
Publié: 2018
Sujets:
электронный ресурс
концентрация
атомы
металлы
поверхностные слои
полилактиды
ионная имплантация
полимеры
Accès en ligne:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/50735
Format: Électronique Chapitre de livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=627516
Description
Résumé:Заглавие с экрана
In the present work the effect of zinc, magnesium and silver ion implantation with exposure doses of 1·10 15 and 1·1016 ion/cm{2}, accelerating voltage of 20 kV and ion energy of 20, 30, 40 keV, respectively on polylactic acid (PL) films we investigated. The study of the state of the modified layer was carried out using the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and TRIM simulation code including dynamic composition changes (TRIDYN) methods. The influence of ion beams on the surface resistivity and the wetting contact angle was studied.

Documents similaires