Исследование структурно-морфологических характеристик наночастиц диоксида кремния, полученного плазменно-дуговым методом

Detaylı Bibliyografya
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of Fundamental Sciences Development: сборник научных трудов XV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 24-27 апреля 2018 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. И. А. Курзиной, Г. А. Вороновой.— , 2018
Т. 1 : Физика.— 2018.— [С. 274-276]
Yazar: Семеновых М. А.
Müşterek Yazar: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)
Diğer Yazarlar: Космачев П. В. (727), Власов В. А. Виталий Анатольевич
Özet:Заглавие с экрана
The paper shows results of structure and morphology research of silica nanopowder obtained from high silica raw materials from Russian fields, such as diatomite of Kamyshlovsk deposit (Sverdlovsk region), the quartzite of Chupinsk deposit ( Republic of Karelia), quartz sand of Tugansk deposit (Tomsk region). The method of transmission electron microscopy (TEM) was used to study the morphology. BET analysis was used to study the surface. Synthesized agglomerated nanoparticles have a spherical shape and size distribution in the range of 10-300 nm.
Dil:Rusça
Baskı/Yayın Bilgisi: 2018
Konular:
Online Erişim:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/51010
Materyal Türü: Elektronik Kitap Bölümü
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=627446

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 627446
005 20231101133448.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\27307 
035 |a RU\TPU\conf\27287 
090 |a 627446 
100 |a 20180906d2018 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus  |d eng 
102 |a RU 
105 |a y z 100zy 
135 |a drgn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Исследование структурно-морфологических характеристик наночастиц диоксида кремния, полученного плазменно-дуговым методом  |d Investigation of structural and morphological characteristics of SiO2 nanoparticles obtained by plasma-arc method  |f М. А. Семеновых, П. В. Космачев  |g науч. рук. В. А. Власов 
203 |a Текст  |c электронный 
230 |a 1 компьютерный файл (pdf; 526 Kb) 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 276 (9 назв.)] 
330 |a The paper shows results of structure and morphology research of silica nanopowder obtained from high silica raw materials from Russian fields, such as diatomite of Kamyshlovsk deposit (Sverdlovsk region), the quartzite of Chupinsk deposit ( Republic of Karelia), quartz sand of Tugansk deposit (Tomsk region). The method of transmission electron microscopy (TEM) was used to study the morphology. BET analysis was used to study the surface. Synthesized agglomerated nanoparticles have a spherical shape and size distribution in the range of 10-300 nm. 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\26928  |t Перспективы развития фундаментальных наук  |l Prospects of Fundamental Sciences Development  |o сборник научных трудов XV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 24-27 апреля 2018 г.  |o в 7 т.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. И. А. Курзиной, Г. А. Вороновой  |d 2018 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\26929  |t Т. 1 : Физика  |v [С. 274-276]  |d 2018 
510 1 |a Investigation of structural and morphological characteristics of SiO2 nanoparticles obtained by plasma-arc method  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a структурно-морфологические характеристики 
610 1 |a наночастицы 
610 1 |a диоксид кремния 
610 1 |a плазменно-дуговые методы 
610 1 |a нанопорошки 
610 1 |a кремнозем 
700 1 |a Семеновых  |b М. А. 
701 1 |a Космачев  |b П. В. 
702 1 |a Власов  |b В. А.  |c физик  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1975-  |g Виталий Анатольевич  |2 stltpush  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)  |h 194  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19033 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20181005  |g RCR 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/51010 
942 |c BK