К вопросу автоматизированных испытаний силовых коммутационных GaN транзисторов

Podrobná bibliografie
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of Fundamental Sciences Development: сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. И. А. Курзиной, Г. А. Вороновой.— , 2017
Т. 7 : IT-технологии и электроника.— 2017.— [С. 111-113]
Hlavní autor: Томашевич А. А.
Další autoři: Лощилов А. Г., Ерофеев Е. В.
Shrnutí:Заглавие с экрана
This paper discusses automation solution for testing of GaN based power transistors. This solution includes switching circuit that makes it possible to measure representative samples in amounts of ten and more in automatic mode. It enables to reduce efforts and increase measurement repeatability.
Jazyk:ruština
Vydáno: 2017
Témata:
On-line přístup:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45347
Médium: Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=625709

Podobné jednotky