Лепёшкина Е. С., Чекмарёв С. А., & Ханов В. Х. (2017). Метод внутрикристального инъектирования сбоев в реальном времени для тестирования сбоеустойчивых микропроцессоров типа система-на-кристалле. 2017.
Chicago Style (17. basım) AtıfЛепёшкина Е. С., Чекмарёв С. А., ve Ханов В. Х. Метод внутрикристального инъектирования сбоев в реальном времени для тестирования сбоеустойчивых микропроцессоров типа система-на-кристалле. 2017, 2017.
MLA (9th ed.) AtıfЛепёшкина Е. С., et al. Метод внутрикристального инъектирования сбоев в реальном времени для тестирования сбоеустойчивых микропроцессоров типа система-на-кристалле. 2017, 2017.
Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..