Разработка эталонной модели качества полупроводникового производства на основе факторного и кластерного анализа
| Parent link: | Молодежь и современные информационные технологии: сборник трудов XIV Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 7-11 ноября 2016 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт кибернетики (ИК) ; под ред. В. С. Аврамчук [и др.].— , 2016 Т. 1.— 2016.— [С. 179-180] |
|---|---|
| Auteur principal: | |
| Collectivité auteur: | |
| Autres auteurs: | , |
| Résumé: | Заглавие с титульного экрана |
| Publié: |
2016
|
| Collection: | Математическое моделирование и компьютерный анализ данных |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/36989 |
| Format: | Électronique Chapitre de livre |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=622141 |
| Résumé: | Заглавие с титульного экрана |
|---|