PIN-diode diagnostics of pulsed electron beam for high repetition rate mode; Energy Fluxes and Radiation Effects (EFRE-2016)

Библиографические подробности
Источник:Energy Fluxes and Radiation Effects (EFRE-2016).— 2016.— [P. 40]
Главный автор: Egorov I. S. Ivan Sergeevich
Автор-организация: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Лаборатория № 1
Другие авторы: Remnev G. E. Gennady Efimovich, And Xiao Yu
Примечания:Title screen
Язык:английский
Опубликовано: 2016
Предметы:
Online-ссылка:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33545
Формат: Электронный ресурс Статья
Запись в KOHA:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=620967