Исследование временных параметров многопортовой памяти, реализованной на ПЛИС

Исследование временных параметров многопортовой памяти, реализованной на ПЛИС

Bibliographic Details
Parent link:Неразрушающий контроль: сборник трудов VI Всероссийской научно-практической конференции "Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность", Томск, 23-27 мая 2016 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2016
Т. 2.— 2016.— [4 с.]
Main Author: Фролов М. С.
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
Other Authors: Солдатов А. И. Алексей Иванович (727)
Summary:Заглавие с титульного экрана
Language:Russian
Published: 2016
Series:Электронно-измерительные устройства контроля и диагностики в технике и медицине
Subjects:
труды учёных ТПУ
электронные ресурсы
СБИС
проектирование
энергозависимые взаимодействия
микросхемы
логические блоки
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/32873
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=620790

Similar Items

Similar Items