Выявление проблемной ситуации в повышение качества производства полупроводниковой продукции

Выявление проблемной ситуации в повышение качества производства полупроводниковой продукции

Bibliographic Details
Parent link:Молодежь и современные информационные технологии: сборник трудов XIII Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 9-13 ноября 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт кибернетики (ИК) ; под ред. Т. Е. Мамоновой [и др.].— , 2016
Т. 2.— 2016.— [С. 32-33]
Main Author: Воскобойникова О. Б. Ольга Борисовна
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Центр социальной работы (ЦСР), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт кибернетики (ИК) Кафедра компьютерных измерительных систем и метрологии (КИСМ)
Other Authors: Аймагамбетова Р. Ж. (727), Стукач О. В. Олег Владимирович
Summary:Заглавие с титульного экрана
Published: 2016
Series:Информационные технологии в производстве и управлении
Subjects:
труды учёных ТПУ
электронный ресурс
полупроводниковые продукты
диаграмма Исикавы
технологические процессы
пластины
информационные системы
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/16963
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=617648
Description
Summary:Заглавие с титульного экрана

Similar Items