Цитирование APA (7-е изд.)

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра технологии силикатов и наноматериалов (ТСН), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра безопасности жизнедеятельности, экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Петровская Т. С. Татьяна Семёновна, Козик В. В. Владимир Васильевич, Борило Л. П., . . . Килин В. А. Виктор Андреевич. (2015). Исследование свойств поверхности наноструктурированных силикофосфатных пленок; Проблемы метрологии нанопорошков и наноматериалов. 2015.

Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра технологии силикатов и наноматериалов (ТСН), экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ) Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра безопасности жизнедеятельности, Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Петровская Т. С. Татьяна Семёновна, Козик В. В. Владимир Васильевич, Борило Л. П., Кузнецова С. А., и Килин В. А. Виктор Андреевич. Исследование свойств поверхности наноструктурированных силикофосфатных пленок; Проблемы метрологии нанопорошков и наноматериалов. 2015, 2015.

Цитирование MLA (9-е изд.)

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра технологии силикатов и наноматериалов (ТСН), et al. Исследование свойств поверхности наноструктурированных силикофосфатных пленок; Проблемы метрологии нанопорошков и наноматериалов. 2015, 2015.

Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.