APA (7th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра технологии силикатов и наноматериалов (ТСН), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра безопасности жизнедеятельности, экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Петровская Т. С. Татьяна Семёновна, Козик В. В. Владимир Васильевич, Борило Л. П., . . . Килин В. А. Виктор Андреевич. (2015). Исследование свойств поверхности наноструктурированных силикофосфатных пленок; Проблемы метрологии нанопорошков и наноматериалов. 2015.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра технологии силикатов и наноматериалов (ТСН), экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ) Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра безопасности жизнедеятельности, Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Петровская Т. С. Татьяна Семёновна, Козик В. В. Владимир Васильевич, Борило Л. П., Кузнецова С. А., and Килин В. А. Виктор Андреевич. Исследование свойств поверхности наноструктурированных силикофосфатных пленок; Проблемы метрологии нанопорошков и наноматериалов. 2015, 2015.

MLA (9th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра технологии силикатов и наноматериалов (ТСН), et al. Исследование свойств поверхности наноструктурированных силикофосфатных пленок; Проблемы метрологии нанопорошков и наноматериалов. 2015, 2015.

Warning: These citations may not always be 100% accurate.