X-ray micro tomography of a nano-satellite; Иностранный язык в контексте проблем профессиональной коммуникации

Մատենագիտական մանրամասներ
Parent link:Иностранный язык в контексте проблем профессиональной коммуникации.— 2015.— [С. 82-84]
Հիմնական հեղինակ: Mamyrbayev T. A.
Համատեղ հեղինակներ: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Лаборатория № 40 (Технической томографии и интроскопии) (Лаборатория № 40), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра иностранных языков физико-технического института (ИЯФТ)
Այլ հեղինակներ: Batranin A. V. Andrey Viktorovich (научный руководитель), Mylnikova T. S. Tatyana Stepanovna (прочие)
Ամփոփում:Заглавие с титульного экрана
X-ray computed tomography (CT) is being increasingly used in industry for dimensional quality control purposes. This method is applies to study the internal structure of the object and to find defects noninvasively [3, p. 495]. For this purpose, the high energy computed tomography scanner was developed at Tomsk Polytechnic University. The voltage of the system X-ray tube is 20-450 kV and the focal spot is 0.4 or 1 mm in size. The x-ray micro tomography of a nano-satellite (CubeSat) is described in this paper.
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: 2015
Շարք:Технологии мониторинга, прогнозирования состояния окружающей среды и ликвидации ее загрязнения
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/16486
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C105/034.pdf
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային Գրքի գլուխ
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=615795

Նմանատիպ նյութեր