X-ray micro tomography of a nano-satellite; Иностранный язык в контексте проблем профессиональной коммуникации

X-ray micro tomography of a nano-satellite; Иностранный язык в контексте проблем профессиональной коммуникации

Bibliographic Details
Parent link:Иностранный язык в контексте проблем профессиональной коммуникации.— 2015.— [С. 82-84]
Main Author: Mamyrbayev T. A.
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Лаборатория № 40 (Технической томографии и интроскопии) (Лаборатория № 40), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра иностранных языков физико-технического института (ИЯФТ)
Other Authors: Batranin A. V. Andrey Viktorovich (научный руководитель), Mylnikova T. S. Tatyana Stepanovna (прочие)
Summary:Заглавие с титульного экрана
X-ray computed tomography (CT) is being increasingly used in industry for dimensional quality control purposes. This method is applies to study the internal structure of the object and to find defects noninvasively [3, p. 495]. For this purpose, the high energy computed tomography scanner was developed at Tomsk Polytechnic University. The voltage of the system X-ray tube is 20-450 kV and the focal spot is 0.4 or 1 mm in size. The x-ray micro tomography of a nano-satellite (CubeSat) is described in this paper.
Language:English
Published: 2015
Series:Технологии мониторинга, прогнозирования состояния окружающей среды и ликвидации ее загрязнения
Subjects:
труды учёных ТПУ
электронный ресурс
компьютерная томография
рентген
наноспутники
неразрушающий контроль
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/16486
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C105/034.pdf
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=615795
Description
Summary:Заглавие с титульного экрана
X-ray computed tomography (CT) is being increasingly used in industry for dimensional quality control purposes. This method is applies to study the internal structure of the object and to find defects noninvasively [3, p. 495]. For this purpose, the high energy computed tomography scanner was developed at Tomsk Polytechnic University. The voltage of the system X-ray tube is 20-450 kV and the focal spot is 0.4 or 1 mm in size. The x-ray micro tomography of a nano-satellite (CubeSat) is described in this paper.

Similar Items