Micron-scale vertical beam size measurements based on transition radiation imaging with a Schwarzschild objective

Micron-scale vertical beam size measurements based on transition radiation imaging with a Schwarzschild objective

Bibliographic Details
Parent link:RREPS-15. Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures: XI International Symposium, 6-11 September 2015, Saint Petersburg, Russia/ National Research Tomsk Polytechnic University (TPU) ; Saint Petersburg State University ; National Research Nuclear University “MEPhI”. [P. 88].— , 2015
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ)
Other Authors: Sukhikh L. G. Leonid Grigorievich, Artyukov I. Igor, Bajt S. Sasa, Kube G. Gero, Lauth W. Werner, Potylitsyn A. P. Alexander Petrovich, Vukolov A. V. Artem Vladimirovich
Summary:Title screen.
Published: 2015
Series:Transition Radiation
Subjects:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
измерения
свет
переходные излучения
изображения
пучки
электронные ускорители
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/22384
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C64/059.pdf
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=615341

Similar Items

Similar Items