APA (7th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Sukhikh L. G. Leonid Grigorievich, Artyukov I. Igor, Bajt S. Sasa, Kube G. Gero, Lauth W. Werner, . . . Vukolov A. V. Artem Vladimirovich. (2015). Micron-scale vertical beam size measurements based on transition radiation imaging with a Schwarzschild objective. 2015.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Sukhikh L. G. Leonid Grigorievich, Artyukov I. Igor, Bajt S. Sasa, Kube G. Gero, Lauth W. Werner, Potylitsyn A. P. Alexander Petrovich, and Vukolov A. V. Artem Vladimirovich. Micron-scale Vertical Beam Size Measurements Based on Transition Radiation Imaging with a Schwarzschild Objective. 2015, 2015.

MLA (9th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), et al. Micron-scale Vertical Beam Size Measurements Based on Transition Radiation Imaging with a Schwarzschild Objective. 2015, 2015.