Исследование распределения микротвердости по глубине циркониевого сплава Э110 после облучения импульсным электронным пучком и наводороживания; Современные техника и технологии; Т. 1

Détails bibliographiques
Parent link:Современные техника и технологии: сборник трудов XXI международной научной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Томск, 5-9 октября 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2015
Т. 1.— [С. 318-320]
Auteur principal: Бабихина М. Н.
Collectivité auteur: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Autres auteurs: Кудияров В. Н. Виктор Николаевич (научный руководитель)
Résumé:Заглавие с титульного экрана
Langue:russe
Publié:
Collection:Материалы и технологии новых поколений
Sujets:
Accès en ligne:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/22172
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C01/V1/098.pdf
Format: Électronique Chapitre de livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=615134

Documents similaires