Eddy current thickness measurement of nonmagnetic products. Advantages and solution; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 2

Bibliografiske detaljer
Parent link:Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность: сборник трудов V Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 25-29 мая 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2015
Т. 2.— 2015.— [С. 393-396]
Hovedforfatter: Belyankov V. Y.
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра иностранных языков физико-технического института (ИЯФТ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Andre forfattere: Mylnikova T. S. Tatyana Stepanovna (научный руководитель), Goldstein (Goldshtein) A. E. Aleksandr Efremovich
Summary:Заглавие с титульного экрана
Sprog:engelsk
Udgivet: 2015
Serier:Electrical Engineering and Non-Destructive Testing
Fag:
Online adgang:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23656
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C36/V2/111.pdf
Format: MixedMaterials Electronisk Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=614390

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 614390
005 20240123095408.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\12560 
090 |a 614390 
100 |a 20150923d2015 k y0rusy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a RU 
105 |a y z 101zy 
135 |a drgn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Eddy current thickness measurement of nonmagnetic products. Advantages and solution  |f V. Y. Belyankov, T. S. Mylnikova  |g sci. adv. A. E. Goldstein (Goldshtein) 
203 |a Text  |c electronic 
225 1 |a Electrical Engineering and Non-Destructive Testing 
300 |a Заглавие с титульного экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 395-396 (4 назв.)] 
337 |a Adobe Reader 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\12353  |t Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность  |o сборник трудов V Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 25-29 мая 2015 г.  |o в 2 т.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |d 2015 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\12355  |t Т. 2  |v [С. 393-396]  |d 2015 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a вихретоковые измерения 
610 1 |a неразрушающий контроль 
610 1 |a дефекты 
610 1 |a толщиномеры 
610 1 |a сигналы 
700 1 |a Belyankov  |b V. Y. 
701 1 |a Mylnikova  |b T. S.  |c linguist  |c Senior Lecturer of Tomsk Polytechnic University  |f 1959-  |g Tatyana Stepanovna  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31241  |9 15436 
702 1 |a Goldstein (Goldshtein)  |b A. E.  |c Specialist in the field of non-destructive testing  |c Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences  |f 1954-  |g Aleksandr Efremovich  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Физико-технический институт (ФТИ)  |b Кафедра иностранных языков физико-технического института (ИЯФТ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18736 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18709 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20210209  |g RCR 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23656 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C36/V2/111.pdf 
942 |c BK