Измерение толщины изоляционной оболочки секторной жилы накладным ВТП

Podrobná bibliografie
Parent link:Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность: сборник трудов V Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 25-29 мая 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2015
Т. 1.— 2015.— [253-257]
Hlavní autor: Ван Юй
Korporativní autor: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Další autoři: Гольдштейн А. Е. Александр Ефремович (727)
Shrnutí:Заглавие с титульного экрана
Jazyk:ruština
Vydáno: 2015
Edice:Электронно-измерительные устройства контроля и диагностики в технике и медицине
Témata:
On-line přístup:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23729
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C36/V1/067.pdf
Médium: Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=614252

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 614252
005 20231101132810.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\12419 
090 |a 614252 
100 |a 20150918d2015 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a y z 101zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Измерение толщины изоляционной оболочки секторной жилы накладным ВТП  |f Ван Юй  |g науч. рук. А. Е. Гольдштейн 
203 |a Текст  |c электронный 
225 1 |a Электронно-измерительные устройства контроля и диагностики в технике и медицине 
230 |a 1 компьютерный файл (pdf; 574 Kb) 
300 |a Заглавие с титульного экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 257 (4 назв.)] 
337 |a Adobe Reader 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\12353  |t Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность  |o сборник трудов V Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 25-29 мая 2015 г.  |o в 2 т.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |d 2015 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\12354  |t Т. 1  |v [253-257]  |d 2015 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a толщина 
610 1 |a изоляционные оболочки 
610 1 |a жилы 
610 1 |a кабели 
610 1 |a провода 
610 1 |a изоляция 
610 1 |a вихретоковые преобразователи 
700 0 |a Ван Юй 
702 1 |a Гольдштейн  |b А. Е.  |c специалист в области неразрушающего контроля  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1954-  |g Александр Ефремович  |2 stltpush  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)  |h 68  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18709 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20210208  |g RCR 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23729 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C36/V1/067.pdf 
942 |c BK