Reducing the value of transient contact resistance due to deposition of copper coatings on aluminum samples by plasmodynamic method

Détails bibliographiques
Parent link:German-Russian Forum Nanotechnology: programme and abstracts, May, 21-24, 2013, Tomsk, Russia/ National Research Tomsk Polytechnic University (TPU). [P. 47].— , 2013
Auteur principal: Sivkov A. A. Aleksandr Anatolyevich
Collectivité auteur: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Энергетический институт (ЭНИН) Кафедра электроснабжения промышленных предприятий (ЭПП)
Autres auteurs: Saigash A. S. Anastasiya Sergeevna, Kolganova J. L. Julia Leonidovna
Résumé:Title screen.
Langue:anglais
Publié: 2013
Sujets:
Accès en ligne:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2013/C100/003.pdf
Format: Électronique Chapitre de livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613653