Закономерности формирования структуры и фазового состава поверхностного слоя силумина, подвергнутого электронно-пучковой обработке

Библиографические подробности
Источник:Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of fundamental sciences development: сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова. [С. 1100-1102].— , 2015
Главный автор: Петрикова Е. А.
Автор-организация: Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Другие авторы: Ткаченко А. В. (727), Ткаченко К. И., Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович
Примечания:Заглавие с экрана
It has been shown that electron beam treatment of silumin is accompanied by the formation of multilayer submicro-and nanocrystalline structure and result in increasing the microhardness of the surface layer (towards the core) is ~ 1.5 times up to 2 GPa.
Язык:русский
Опубликовано: 2015
Серии:Наноматериалы и нанотехнологии
Предметы:
Online-ссылка:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19081
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/350.pdf
Формат: Электронный ресурс Статья
Запись в KOHA:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613184

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 613184
005 20251124095855.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\11316 
035 |a RU\TPU\conf\11315 
090 |a 613184 
100 |a 20150708d2015 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 101zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Закономерности формирования структуры и фазового состава поверхностного слоя силумина, подвергнутого электронно-пучковой обработке  |d Regularities of structure and phase composition formation of surface layer of silumin subjected to electron-beam treatment  |f Е. А. Петрикова, А. В. Ткаченко, К. И. Ткаченко  |g науч. рук. Ю. Ф. Иванов 
203 |a Текст  |c электронный 
215 |a 1 файл(528 Кб) 
225 1 |a Наноматериалы и нанотехнологии 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 1102 (3 назв.)] 
330 |a It has been shown that electron beam treatment of silumin is accompanied by the formation of multilayer submicro-and nanocrystalline structure and result in increasing the microhardness of the surface layer (towards the core) is ~ 1.5 times up to 2 GPa. 
337 |a Adobe Reader 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\10376  |t Перспективы развития фундаментальных наук  |l Prospects of fundamental sciences development  |o сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова  |v [С. 1100-1102]  |d 2015 
510 1 |a Regularities of structure and phase composition formation of surface layer of silumin subjected to electron-beam treatment  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a структуры 
610 1 |a фазовые составы 
610 1 |a поверхностные слои 
610 1 |a силумины 
610 1 |a электронно-пучковая обработка 
700 1 |a Петрикова  |b Е. А. 
701 1 |a Ткаченко  |b А. В. 
701 1 |a Ткаченко  |b К. И. 
702 1 |a Иванов  |b Ю. Ф.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1955-  |g Юрий Федорович  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |c (2009- )  |9 26305 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20101016 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20210128  |g RCR 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19081 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/350.pdf 
942 |c BK