Легирование поверхности алюминия титаном посредством облучения системы Ti (пленка) / Al (подложка), интенсивным импульсным электронным пучком - анализ тепловых процессов
| Parent link: | Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of fundamental sciences development: сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова. [С. 1091-1093].— , 2015 |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| מחבר תאגידי: | |
| מחברים אחרים: | , , |
| סיכום: | Заглавие с экрана Computer simulation of temperature fields formed in the radiation of system film/substrate intense electron beam irradiation. Essential distinctions in formation of a temperature field in films of the titan located on aluminum and in a massive sample of the titan are revealed. |
| שפה: | רוסית |
| יצא לאור: |
2015
|
| סדרה: | Наноматериалы и нанотехнологии |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19079 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/347.pdf |
| פורמט: | אלקטרוני Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613181 |
| תיאור פיזי: | 1 файл(354 Кб) |
|---|---|
| סיכום: | Заглавие с экрана Computer simulation of temperature fields formed in the radiation of system film/substrate intense electron beam irradiation. Essential distinctions in formation of a temperature field in films of the titan located on aluminum and in a massive sample of the titan are revealed. |