Осаждение барьерных слоев на основе нитрида титана с помощью дуальной МРС

Manylion Llyfryddiaeth
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук=Prospects of fundamental sciences development: сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова. [С. 125-127].— , 2015
Prif Awdur: Киселева Д. В.
Awdur Corfforaethol: Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Awduron Eraill: Михневич К. С. (727), Юрьев Ю. Н. Юрий Николаевич
Crynodeb:Заглавие с экрана
The titanium nitride (TiN) thin films of polycrystalline structure (110), (200) and (220) with elasticmodulus 153.2…395.7 GPa were obtained by means of magnetron sputtering of titanium cathode in argon andnitrogen. The electrical resistance of the samples is in the range of 0.15 ... 1.24 m[omega]·cm. The effects of phasecomposition, microstructure, morphology and physical-mechanical properties of TiN on d[s-t] and N[2] flow rate arepresented.
Cyhoeddwyd: 2015
Cyfres:Физика
Pynciau:
Mynediad Ar-lein:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19128
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/032.pdf
Fformat: Electronig Pennod Llyfr
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612939

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 612939
005 20250904104844.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\11070 
035 |a RU\TPU\conf\11066 
090 |a 612939 
100 |a 20150701d2015 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 101zy 
135 |a drgn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Осаждение барьерных слоев на основе нитрида титана с помощью дуальной МРС  |d Deposition of the barrier layers of titanium nitride with dual MSS  |f Д. В. Киселева, К. С. Михневич, Ю. Н. Юрьев  |g науч. рук. Ю. Н. Юрьев 
203 |a Текст  |c электронный 
215 |a 1 файл(206 Кб) 
225 1 |a Физика 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 127 (5 назв.)] 
330 |a The titanium nitride (TiN) thin films of polycrystalline structure (110), (200) and (220) with elasticmodulus 153.2…395.7 GPa were obtained by means of magnetron sputtering of titanium cathode in argon andnitrogen. The electrical resistance of the samples is in the range of 0.15 ... 1.24 m[omega]·cm. The effects of phasecomposition, microstructure, morphology and physical-mechanical properties of TiN on d[s-t] and N[2] flow rate arepresented. 
337 |a Adobe Reader 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\10376  |t Перспективы развития фундаментальных наук  |l Prospects of fundamental sciences development  |o сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова  |v [С. 125-127]  |d 2015 
510 1 |a Deposition of the barrier layers of titanium nitride with dual MSS  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a осаждение 
610 1 |a барьерные слои 
610 1 |a нитрид титана 
610 1 |a магнетронные системы 
610 1 |a магнетронные распылительные системы 
610 1 |a пленки 
700 1 |a Киселева  |b Д. В. 
701 1 |a Михневич  |b К. С. 
701 1 |a Юрьев  |b Ю. Н.  |c специалист в области водородной энергетики  |c заведующий лабораторией Томского политехнического университета, младший научный сотрудник  |f 1984-  |g Юрий Николаевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30543  |9 14839 
702 1 |a Юрьев  |b Ю. Н.  |c специалист в области водородной энергетики  |c заведующий лабораторией Томского политехнического университета, младший научный сотрудник  |f 1984-  |g Юрий Николаевич  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |c (2009- )  |9 26305 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20101016 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20210128  |g RCR 
850 |a 63413507 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19128 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/032.pdf 
942 |c BK