Исследование проникновения водорода в тонкопленочную систему Аl[2]O[3]/Ti из сред разного агрегатного состояния; Перспективы развития фундаментальных наук

Xehetasun bibliografikoak
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук.— 2015.— [С. 118-121]
Egile nagusia: Каражанов К. Т.
Erakunde egilea: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Beste egile batzuk: Сыпченко В. С. Владимир Сергеевич (научный руководитель), Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Gaia:Заглавие с экрана
One of the ways to protect titanium and its alloys from embrittlement is the application of thin films on the surface of our samples. Such films were obtained by magnetron sputtering of samples of nanocrystalline titanium, samples saturated with hydrogen. Also, the article presents an experimental study on the saturation of the samples with hydrogen by electrolytic, plasma and Siverts's methods. A Al2O3 film is a good barrier to the penetration of hydrogen into the metals, especially in conditions of its operation under reduced pressure (for example, during plasma saturation).
Hizkuntza:errusiera
Argitaratua: 2015
Saila:Физика
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19126
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/030.pdf
Formatua: Baliabide elektronikoa Liburu kapitulua
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612937

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 612937
005 20240126091853.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\11068 
035 |a RU\TPU\conf\11065 
090 |a 612937 
100 |a 20150701d2015 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 101zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Исследование проникновения водорода в тонкопленочную систему Аl[2]O[3]/Ti из сред разного агрегатного состояния  |d Study of the hydrogen permeation into Аl[2]O[3]/Ti thin-film system from different environments aggregate state  |f К. Т. Каражанов, В. С. Сыпченко  |g науч. рук. Н. Н. Никитенков 
203 |a Текст  |c электронный 
215 |a 1 файл(821 Кб) 
225 1 |a Физика 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 120-121 (4 назв.)] 
330 |a One of the ways to protect titanium and its alloys from embrittlement is the application of thin films on the surface of our samples. Such films were obtained by magnetron sputtering of samples of nanocrystalline titanium, samples saturated with hydrogen. Also, the article presents an experimental study on the saturation of the samples with hydrogen by electrolytic, plasma and Siverts's methods. A Al2O3 film is a good barrier to the penetration of hydrogen into the metals, especially in conditions of its operation under reduced pressure (for example, during plasma saturation). 
337 |a Adobe Reader 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\10376  |t Перспективы развития фундаментальных наук  |l Prospects of fundamental sciences development  |o сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова  |v [С. 118-121]  |d 2015 
510 1 |a Study of the hydrogen permeation into Аl[2]O[3]/Ti thin-film system from different environments aggregate state  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a проникновение 
610 1 |a водород 
610 1 |a тонкопленочные системы 
610 1 |a агрегатные состояния 
700 1 |a Каражанов  |b К. Т. 
701 1 |a Сыпченко  |b В. С.  |c физик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат наук  |f 1987-  |g Владимир Сергеевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28216  |9 13170 
702 1 |a Никитенков  |b Н. Н.  |c российский физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1953-  |g Николай Николаевич  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Физико-технический институт (ФТИ)  |b Кафедра общей физики (ОФ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18734 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20101016 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20210128  |g RCR 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19126 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/030.pdf 
942 |c BK