Studies of the distribution of microhardness by the depth of zirconium alloy E110 after irradiation with pulsed electron beam and hydrogenation; Перспективы развития фундаментальных наук

Detaylı Bibliyografya
Parent link:Перспективы развития фундаментальных наук.— 2015.— [С. 60-62]
Yazar: Бабихина М. Н.
Müşterek Yazar: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Diğer Yazarlar: Кудияров В. Н. Виктор Николаевич (научный руководитель)
Özet:Заглавие с экрана
Проведено исследование влияния облучения импульсным электронным пучком и последующего наводороживания на распределение микротвердости по поперечному шлифу циркониевого сплава Э110. Показано, что наводороживание приводит к незначительному росту твердости только на небольшой глубине, что говорит о том, что водород не проникает в глубину образцов, а локализуется в тонком поверхностном слое. Такой результат подтверждается исследованием распределения водорода по глубине циркониевого сплава после облучения и наводороживания.
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: 2015
Seri Bilgileri:Физика
Konular:
Online Erişim:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19200
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/011.pdf
Materyal Türü: MixedMaterials Elektronik Kitap Bölümü
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=612924

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 612924
005 20231101132730.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\11055 
035 |a RU\TPU\conf\11054 
090 |a 612924 
100 |a 20150701d2015 k y0rusy50 ba 
101 0 |a eng  |d rus 
102 |a RU 
105 |a a z 101zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Studies of the distribution of microhardness by the depth of zirconium alloy E110 after irradiation with pulsed electron beam and hydrogenation  |d Исследование распределения микротвердости по глубине циркониевого сплава Э110 после облучения импульсным электронным пучком и наводороживания  |f М. Н. Бабихина  |g науч. рук. В. Н. Кудияров 
203 |a Текст  |c электронный 
215 |a 1 файл(209 Кб) 
225 1 |a Физика 
230 |a Электронные текстовые данные (1 файл: 209 Кб) 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 62 (3 назв.)] 
330 |a Проведено исследование влияния облучения импульсным электронным пучком и последующего наводороживания на распределение микротвердости по поперечному шлифу циркониевого сплава Э110. Показано, что наводороживание приводит к незначительному росту твердости только на небольшой глубине, что говорит о том, что водород не проникает в глубину образцов, а локализуется в тонком поверхностном слое. Такой результат подтверждается исследованием распределения водорода по глубине циркониевого сплава после облучения и наводороживания. 
337 |a Adobe Reader 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\10376  |t Перспективы развития фундаментальных наук  |l Prospects of fundamental sciences development  |o сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ) ; Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ) ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) ; ред. кол. И. А. Курзина ; Г. А. Воронова ; С. А. Поробова  |v [С. 60-62]  |d 2015 
510 1 |a Исследование распределения микротвердости по глубине циркониевого сплава Э110 после облучения импульсным электронным пучком и наводороживания  |z rus 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a микротвердость 
610 1 |a циркониевые сплавы 
610 1 |a облучение 
610 1 |a импульсные пучки 
610 1 |a электронные пучки 
610 1 |a наводороживание 
700 1 |a Бабихина  |b М. Н. 
702 1 |a Кудияров  |b В. Н.  |c физик  |c инженер Томского политехнического университета  |f 1990-  |g Виктор Николаевич  |2 stltpush  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Физико-технический институт (ФТИ)  |b Кафедра общей физики (ОФ)  |h 136  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18734 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20101016 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20210128  |g RCR 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19200 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/011.pdf 
942 |c BK