Микропроцессорный характериограф; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1

Микропроцессорный характериограф; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1

Бібліографічні деталі
Parent link:	Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность: сборник трудов IV Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 26-30 мая 2014 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2014 Т. 1.— 2014.— [С. 225-227]
Автор:	Бикбулатов А. С.
Співавтор:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
Інші автори:	Селезнев А. И. Антон Иванович (научный руководитель)
Резюме:	Заглавие с титульного листа.
Мова:	Російська
Опубліковано:	2014
Серія:	Электронно-измерительные устройства контроля и диагностики в технике и медицине
Предмети:	труды учёных ТПУ электронный ресурс характериографы полупроводниковые компоненты типономиналы вольт-фарадные характеристики измерители
Онлайн доступ:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C36/V1/083.pdf
Формат:	Електронний ресурс Частина з книги
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=609213

Схожі ресурси

Микропроцессорный измеритель ВАХ полупроводниковых компонентов; Современные техника и технологии; Т. 1
за авторством: Бикбулатов А. С.
Опубліковано: (2014)

Автоматизированный характериограф; Приборы и техника эксперимента; № 1
за авторством: Великанов Д. А.
Опубліковано: (2004)

Вольт-фарадные измерения параметров полупроводников
за авторством: Георгиу В. Г. Валерий Георгиевич
Опубліковано: (Кишинев, Штиинца, 1987)

Разработка методов и средств измерений параметров полупроводниковых материалов и структур: Отчет о НИР; Тема: 10-36/89
Опубліковано: (Томск, 1990)

Физические основы продукции высокотехнологичного производства
за авторством: Вострецова Л. Н.
Опубліковано: (Ульяновск, УлГУ, 2021)

Программа расчета параметров МДП-структуры по методу Термана; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 309, № 8
за авторством: Давыдов В. Н.
Опубліковано: (2006)

Микропроцессорный измеритель коэффициента температуропроводности материалов; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
за авторством: Жгилев С. В.
Опубліковано: (2013)

Измеритель импульсной дозы бетатрона; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
за авторством: Затонов И. А. Иван Андреевич
Опубліковано: (2015)

Обзор измерителей уровня жидких сред; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 2
за авторством: Панимаскина М. В.
Опубліковано: (2015)

Статические характеристики диодных структур
за авторством: Абидов М. А. Марат Алимович
Опубліковано: (Москва, Радио и связь, 1989)

Все отечественные микросхемы
Опубліковано: (Москва, Додэка-XXI, 2004)

Радиоизотопный измеритель толщины карбидокремниевых покрытий; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
за авторством: Горохов Р. Е.
Опубліковано: (2014)

Разработка и исследование измерителей шероховатости на базе измерителей неровностей; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
за авторством: Калиниченко Н. П. Николай Петрович
Опубліковано: (2014)

Инструментальные погрешности фазовых вихретоковых измерителей электропроводности с частотным уравновешивающим преобразованием; Техническая диагностика и неразрушающий контроль; № 4
за авторством: Рыбачук В. Г.
Опубліковано: (2004)

Электронные измерительные приборы ( Аналоговые и цифровые): учебное пособие
за авторством: Полулях К. С. Константин Степанович
Опубліковано: (Москва, Высшая школа, 1966)

Микропроцессорный блок охранной сигнализации с дистанционным управлением; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
за авторством: Обач И. И.
Опубліковано: (2014)

Оптимизация устройства "Гамма-500"; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 2
за авторством: Маслов А. В.
Опубліковано: (2015)

Электронные измерительные приборы: учебное пособие
за авторством: Полулях К. С. Константин Степанович
Опубліковано: (Харьков, Изд-во Харьковского ун-та, 1963)

Программо-управляемые модули для автоматизации измерений вольт-амперных характеристик цепочек переходов Джозефсона; Приборы и техника эксперимента; № 1
Опубліковано: (2002)

Электроника. Лабораторный практикум: учебно-методическое пособие
Опубліковано: (Томск, Изд-во ТПУ, 2025)

Физическое моделирование GaN/AlGaN HEMTнаногетероструктур и мощных СВЧ-транзисторовс использованием пакета Synopsys; Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники; № 2 (26), ч. 2
Опубліковано: (2012)

Разработка метода нагрева электродов и измерения вольт-амперных характеристик термоэмиссионных многоэлементных ЭКГ в условиях петлевых испытаний; Атомная энергия; Т. 94, вып. 6
Опубліковано: (2003)

Контактные явления в полупроводниках: учебное пособие для вузов
за авторством: Стриха В. И. Виталий Илларионович
Опубліковано: (Киев, Вища школа, 1982)

Решение уравнений электродиффузии в квазистационарном приближении; Известия вузов. Физика; Т. 47, № 3
за авторством: Климачев Г. В.
Опубліковано: (2004)

Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий учеб. пособие
за авторством: Глинченко А. С.
Опубліковано: (Москва, ДМК Пресс, 2010)

Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий: учебное пособие
Опубліковано: (Москва, ДМК Пресс, 2008)

Физика полупроводниковых приборов: учебное пособие для вузов
за авторством: Гаман В. И.
Опубліковано: (Томск, Изд-во Томского ун-та, 1989)

Неразрушающий контроль механических характеристик алюминиевых сплавов по удельной электрической проводимости; Дефектоскопия; № 7
Опубліковано: (2006)

Микропроцессорный измеритель толщины гальванического покрытия меди на стали Х18Н10Т; Современные техника и технологии; Т. 1.
за авторством: Нестеров А. М.
Опубліковано: (2003)

Механизм переноса зарядов в излучающих структурах на основе арсенида галлия; Известия вузов. Физика; Т. 46, № 3
за авторством: Карлова Г. Ф.
Опубліковано: (2003)

Термоэмиссионный промежуток с ρ-полупроводником; Атомная энергия; Т. 98, вып. 3
за авторством: Казачковский О. Д.
Опубліковано: (2005)

Моделирование вольт-амперных характеристик мощных каскодных аналогов негатронов с использованием модуля Pspice САПР OrCAD; Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика; № 2
за авторством: Стрижаков П. И.
Опубліковано: (2004)

Методика построения трёхмерной воль-амперной характеристики сварочной дуги; Прогрессивные технологии и экономика в машиностроении
за авторством: Брунов О. Г.
Опубліковано: (2003)

Применение метода анализа главных компонент для обработки данных активного теплового контроля; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
за авторством: Рабданов Ч. А.
Опубліковано: (2015)

Исследование аппроксимационных возможностей многослойных нейронных сетей в некоторых нейроимитаторах; Молодежь и современные информационные технологии
за авторством: Филиппов М. М. Максим Михайлович
Опубліковано: (2006)

Схемы накачки CuBr-лазера с импульсным зарядом рабочей емкости; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
за авторством: Красников И. В.
Опубліковано: (2013)

Исследование эффективности современных решений и подходов в сборочно-монтажном производстве печатных узлов; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1
за авторством: Викторова М. О.
Опубліковано: (2013)

Fabrication of 2D based pn junctions with improved performance by selective laser annealing; Высокие технологии в современной науке и технике (ВТСНТ-2017)
Опубліковано: (2017)

Физические основы электроники. Практикум: учебное пособие
Опубліковано: (Томск, Изд-во ТПУ, 2008)

Investigation of Changing Volt-Ampere Characteristics of AlGaInP Heterostructures with Multiple Quantum Wells under Ionizing Radiation; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 110 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials (RTEP2015)
за авторством: Gradoboev A. V. Aleksandr Vasilyevich
Опубліковано: (2016)