Микропроцессорный характериограф

Микропроцессорный характериограф

Библиографические подробности
Источник:	Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность: сборник трудов IV Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 26-30 мая 2014 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2014 Т. 1.— 2014.— [С. 225-227]
Главный автор:	Бикбулатов А. С.
Автор-организация:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
Другие авторы:	Селезнев А. И. Антон Иванович (727)
Примечания:	Заглавие с титульного листа.
Опубликовано:	2014
Серии:	Электронно-измерительные устройства контроля и диагностики в технике и медицине
Предметы:	труды учёных ТПУ электронный ресурс характериографы полупроводниковые компоненты типономиналы вольт-фарадные характеристики измерители
Online-ссылка:	http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C36/V1/083.pdf
Формат:	Электронный ресурс Статья
Запись в KOHA:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=609213

Схожие документы

Микропроцессорный измеритель ВАХ полупроводниковых компонентов
по: Бикбулатов А. С.
Опубликовано: (2014)

Автоматизированный характериограф
по: Великанов Д. А.
Опубликовано: (2004)

Вольт-фарадные измерения параметров полупроводников
по: Георгиу В. Г. Валерий Георгиевич
Опубликовано: (Кишинев, Штиинца, 1987)

Разработка методов и средств измерений параметров полупроводниковых материалов и структур Отчет о НИР Тема: 10-36/89
Опубликовано: (Томск, 1990)

Программа расчета параметров МДП-структуры по методу Термана
по: Давыдов В. Н.
Опубликовано: (2006)

Физические основы продукции высокотехнологичного производства
по: Вострецова Л. Н.
Опубликовано: (Ульяновск, УлГУ, 2021)

Микропроцессорный измеритель коэффициента температуропроводности материалов
по: Жгилев С. В.
Опубликовано: (2013)

Статические характеристики диодных структур
по: Абидов М. А. Марат Алимович
Опубликовано: (Москва, Радио и связь, 1989)

Все отечественные микросхемы
Опубликовано: (Москва, Додэка-XXI, 2004)

Физическое моделирование GaN/AlGaN HEMTнаногетероструктур и мощных СВЧ-транзисторовс использованием пакета Synopsys
Опубликовано: (2012)

Электронные измерительные приборы ( Аналоговые и цифровые) учебное пособие
по: Полулях К. С. Константин Степанович
Опубликовано: (Москва, Высшая школа, 1966)

Investigation of Changing Volt-Ampere Characteristics of AlGaInP Heterostructures with Multiple Quantum Wells under Ionizing Radiation
по: Gradoboev A. V. Aleksandr Vasilyevich
Опубликовано: (2016)

Методы улучшения метрологических характеристик лазерных измерителей диаметра
по: Николаев К. В.
Опубликовано: (2017)

Study on nanosecond pulsed electron beam generation
Опубликовано: (2014)

Импульсная электрическая прочность бетона
по: Зиновьев Н. Т.
Опубликовано: (2011)

Моделирование дислокаций путем параллельного подключения
по: Потрепалов И. Д.
Опубликовано: (2019)

Алгоритм поиска точки максимальной мощности для повышающего преобразователя с ПИ-регулятором в солнечном инверторе
по: Диксон Р. К. Роберт Кристофер
Опубликовано: (2015)

Влияние тонких функциональных слоев электродов на характеристики среднетемпературного твердооксидного топливного элемента
Опубликовано: (2021)

Электронные измерительные приборы учебное пособие
по: Полулях К. С. Константин Степанович
Опубликовано: (Харьков, Изд-во Харьковского ун-та, 1963)

Микропроцессорный измеритель толщины гальванического покрытия меди на стали Х18Н10Т
по: Нестеров А. М.
Опубликовано: (2003)

Разработка и исследование композиционных полимерных материалов с нелинейной вольт-амперной характеристикой
по: Стрыжков А. Е. Алексей Евгеньевич
Опубликовано: (2012)

Методика построения трёхмерной воль-амперной характеристики сварочной дуги
по: Брунов О. Г.
Опубликовано: (2003)

Программо-управляемые модули для автоматизации измерений вольт-амперных характеристик цепочек переходов Джозефсона
Опубликовано: (2002)

Применение аппарата нечёткой логики для улучшения свойств MPPT алгоритма "возмущение-наблюдение"
по: Гимазов Р. У.
Опубликовано: (2016)

Fabrication of 2D based pn junctions with improved performance by selective laser annealing
Опубликовано: (2017)

Исследование аппроксимационных возможностей многослойных нейронных сетей в некоторых нейроимитаторах
по: Филиппов М. М. Максим Михайлович
Опубликовано: (2006)

Физические основы электроники. Практикум учебное пособие
Опубликовано: (Томск, Изд-во ТПУ, 2008)

Детектор двумерных смещений
по: Деева В. С. Вера Степановна
Опубликовано: (2011)

Разработка метода нагрева электродов и измерения вольт-амперных характеристик термоэмиссионных многоэлементных ЭКГ в условиях петлевых испытаний
Опубликовано: (2003)

Определение мощности сдвига и спектральный анализ с помощью вольт-амперных характеристик
по: Бацева Н. Л. Наталья Ленмировна
Опубликовано: (2003)

Бесконтактный измеритель длины стального каната "Дельта 4.1"
по: Кондратенко П. В.
Опубликовано: (2007)

Лабораторный практикум по курсу "Физические основы электроники"
по: Аристов А. В. Анатолий Владимирович
Опубликовано: (Томск, Изд-во ТПУ, 2006)

Спектральный анализ токов (напряжений) в однофазных и трехфазных цепях с помощью вольт-амперных характеристик
по: Гольдштейн Е. И. Ефрем Иосифович
Опубликовано: (2005)

Электроника. Лабораторный практикум учебно-методическое пособие
Опубликовано: (Томск, Изд-во ТПУ, 2025)

Разработка методов улучшения метрологических характеристик лазерных измерителей диаметра
по: Терещенко Д. Б.
Опубликовано: (2017)

Повышение стабильности качества соединений тонкостенных деталей из циркониевого сплава Э110 при контактной точечной сварке
по: Слободян М. С. Михаил Степанович
Опубликовано: (2009)

Контактные явления в полупроводниках учебное пособие для вузов
по: Стриха В. И. Виталий Илларионович
Опубликовано: (Киев, Вища школа, 1982)

Решение уравнений электродиффузии в квазистационарном приближении
по: Климачев Г. В.
Опубликовано: (2004)

Физика полупроводниковых приборов учебное пособие для вузов
по: Гаман В. И.
Опубликовано: (Томск, Изд-во Томского ун-та, 1989)

Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий учеб. пособие
по: Глинченко А. С.
Опубликовано: (Москва, ДМК Пресс, 2010)