The reliability of the power semiconductor module on the operating temperature
| Parent link: | Интеллектуальные энергосистемы: труды II Международного молодёжного форума, 6-10 октября 2014 г., г. Томск/ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2014 Т. 1.— 2014.— [P. 59-66] |
|---|---|
| Main Author: | |
| Corporate Author: | |
| Other Authors: | |
| Summary: | Заглавие с титульного экрана A comparison of the intensities of the failure of a power unit with the real thermal regime of the device under conditions of natural con-vection and obtained by using statistical data analysis. The integrated assess-ment of reliability based on the methods of physics failures. The necessity of taking into account the actual non-stationary temperature fields to improve the reliability of the forecast operating life of power semiconductor devices. |
| Published: |
2014
|
| Series: | Теплофизика и теоретическая теплотехника |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C43/V1/015.pdf |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=608902 |
MARC
| LEADER | 00000naa2a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 608902 | ||
| 005 | 20240220133606.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\conf\6338 | ||
| 090 | |a 608902 | ||
| 100 | |a 20141017d2014 k y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a eng | |
| 102 | |a RU | ||
| 105 | |a y z 101zy | ||
| 135 | |a drnn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a The reliability of the power semiconductor module on the operating temperature |f E. V. Kravchenko, D. Ivleva | |
| 203 | |a Text |c electronic | ||
| 225 | 1 | |a Теплофизика и теоретическая теплотехника | |
| 300 | |a Заглавие с титульного экрана | ||
| 320 | |a [Ref.: p. 65-66 (31 tit.)] | ||
| 330 | |a A comparison of the intensities of the failure of a power unit with the real thermal regime of the device under conditions of natural con-vection and obtained by using statistical data analysis. The integrated assess-ment of reliability based on the methods of physics failures. The necessity of taking into account the actual non-stationary temperature fields to improve the reliability of the forecast operating life of power semiconductor devices. | ||
| 337 | |a Adobe Reader | ||
| 461 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\6228 |t Интеллектуальные энергосистемы |o труды II Международного молодёжного форума, 6-10 октября 2014 г., г. Томск |o в 2 т. |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |d 2014 | |
| 463 | 1 | |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\6230 |t Т. 1 |v [P. 59-66] |d 2014 | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a надежность | |
| 610 | 1 | |a силовые модули | |
| 610 | 1 | |a температура | |
| 610 | 1 | |a питание | |
| 610 | 1 | |a полупроводниковые приборы | |
| 610 | 1 | |a блоки | |
| 700 | 1 | |a Kravchenko |b E. V. |c specialist in the field of power engineering |c Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences |f 1981- |g Evgeny Vladimirovich |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32852 |9 16700 | |
| 701 | 1 | |a Ivleva |b D. | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |b Энергетический институт (ЭНИН) |b Кафедра автоматизации теплоэнергетических процессов (АТП) |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18678 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20200311 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C43/V1/015.pdf | |
| 942 | |c BK | ||